脉冲测试

脉冲测试是一种能够减少器件总能耗的测量技术。它通过减少焦耳热效应(例如I2R和V2/R),避免对小型纳米器件可能造成的损坏。脉冲测试采用足够高的电源对待测器件(DUT)施加间隔很短的脉冲,产生高品质的可测信号,然后去掉信号源。

资源总数
500

脉冲测试 全部资料 500 份

为了利用级联Blumlein型脉冲形成网络在高阻抗负载产生理想的高压平顶脉冲输出,开展了构成该脉冲功率源关键单元的始端电感和终端电感设计。从充电电压一致性,输出脉冲不发生严重畸变,高的电压叠加效率,可接受的负载预脉冲幅值出发,确定了始端电感...

2013-10-09 80 脉冲测试

基于先进电学测试方法,分析高k栅介质在脉冲激励下的电荷俘获特性,揭示其动态响应机制与界面缺陷影响。采用精确的时域测量技术,为器件可靠性研究提供关键数据支持。

2026-03-12 2 脉冲测试