脉冲测试
脉冲测试是一种能够减少器件总能耗的测量技术。它通过减少焦耳热效应（例如I2R和V2/R），避免对小型纳米器件可能造成的损坏。脉冲测试采用足够高的电源对待测器件（DUT）施加间隔很短的脉冲，产生高品质的可测信号，然后去掉信号源。
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脉冲宽度调制（PWM）
掌握脉冲宽度调制技术，帮助开发者高效控制电机、LED亮度和电源管理。通过调节占空比实现精准模拟信号输出，提升嵌入式系统性能与灵活性。适合单片机应用与硬件开发场景。
2026-02-16
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