脉冲测试

脉冲测试是一种能够减少器件总能耗的测量技术。它通过减少焦耳热效应（例如I2R和V2/R），避免对小型纳米器件可能造成的损坏。脉冲测试采用足够高的电源对待测器件（DUT）施加间隔很短的脉冲，产生高品质的可测信号，然后去掉信号源。

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一，实验目的 1，  熟悉单片机定时/计数功能，掌握初始化编成方法； 2，  掌握顺序控制程序的简单编程；掌握显示数据的编程方法

2013-10-15 41 脉冲测试

脉冲滤波算法，对因环境干扰引起的尖峰脉冲能够有效的虑掉，在单片机中，既能实现又能提高执行效率，不一个不错的代码。我以多次使用，如C8051F060,C8051F040,C8051F410,C8051F320中。

2016-07-19 67 脉冲测试