脉冲测试
脉冲测试是一种能够减少器件总能耗的测量技术。它通过减少焦耳热效应（例如I2R和V2/R），避免对小型纳米器件可能造成的损坏。脉冲测试采用足够高的电源对待测器件（DUT）施加间隔很短的脉冲，产生高品质的可测信号，然后去掉信号源。
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查看全部 500 份 →MC9S12脉冲累加器
该程序是学校飞思卡尔MC9S12XS128MAL实验平台上的程序，开发环境是Codewarrier 5.0 For S12,程序是购买实验平台时赠送的，是合肥工业大学编写的，每个模块均验证通过，代码很详细。
2025-12-06
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