FPGA中ESD技术和可配置耐压结构研究.rar
静电放电(ESD)是集成电路(IC)中最重要的可靠性问题之一。工业调查表明大约有40％的IC失效与ESD/EOS(电过应力)有关。因此，研究并控制ESD是实现更好性能、更高可靠性IC的一个重要问题。随着IC器件的特征尺寸越来越小，ESD所造成的问题表现得更加突出，已成为现代集成电路芯片在制造和应用过...
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