耐压测试
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静电放电(ESD)是集成电路(IC)中最重要的可靠性问题之一。工业调查表明大约有40％的IC失效与ESD/EOS(电过应力)有关。因此，研究并控制ESD是实现更好性能、更高可靠性IC的一个重要问题。随着IC器件的特征尺寸越来越小，ESD所造...
2023-09-27
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2016-05-08
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