📚 综合测试仪技术资料

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芯片综合的过程：芯片的规格说明，芯片设计的划分，预布局，RTL 逻辑单元的综合，各逻辑单元的集成，测试，布局规划，布局布线，最终验证等步骤。设计流程与思想概述：一个设计从市场需求到实际应用需要运用...

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PSGKC-D型开关机械特性测试仪，是我公司针对各种高压开关研制的一种通用型电脑智能化测试仪器。该仪器应用光电脉冲技术，单片计算机技术及可靠的抗电磁辐射技术，配以精确可靠的速度/距离传感器，可用于各种...

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低空测试仪试验需要把整个测试仪作为吊舱挂在直升机下工作，能适应各种恶劣的自然条件，用于某飞行部件地海杂波环境下的测试。以PC104嵌入式计算机为硬件平台，标准C++为开发工具，针对低空测试仪数据采集需...

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以LM3S1138芯片作为控制核心，设计了一个晶体管参数测试系统。该系统主要功能模块包括：恒流源阶梯信号、电压扫描信号、升压电路、保护电路等。利用8位D/A转换器产生稳定的控制电压，通过集成在LM3S...

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自制 万能集成电路测试仪 用51单片机 做的 可以支持74系列·4000系列·运放系列·和接口芯片·静态存储器等芯片测试 目前支持400多个芯片...

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