绕过技术
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STM32过采样技术
深入探讨STM32过采样技术，揭示如何通过降低采样速度来显著提升ADC分辨率。内容涵盖从基本原理到实际应用的全面讲解，适合希望优化其嵌入式系统性能的开发者。
2025-12-12
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通过分页技术
通过分页技术，在屏幕上显示文件data.txt中多个选定的数据。方法是：  读入数据为整数的逻辑地址(<0时退出)；  将逻辑地址分解为页号、页内位移；  查页表，若该...
2014-06-28
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箔式绕组绕制机在绕制过程中的常见故障及解决方法
箔式绕组绕制机(简称箔绕机)是绕制中小型电力变压器低压箔式绕组的关键设备。箔绕机主要由箔带开卷装置、引料装置、箔带张紧装置、压毛装置、箔带剪切装置、端绝缘开卷装置、卷绕机、焊接装置、下料车、层绝
2024-03-04
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基于DSP的过采样技术
在使用DSP进行数字信号处理时，应用过采样技术可以增加其内置模数转换器的分辨率。讨论了应用过采样技术的原理、如何使用TMS320LF2407来实现过采样，以及在软件上的实现方法。
2013-11-01
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ARM Cortex-M3的过采样技术
利用过采样技术可在不需片外ADC器件的情况下,达到同样的采样效果。将Cortex-M3内核与过采样技术相结合,不仅能够降低成本,而且提升了系统的运行速率、可靠性与稳定性。
2013-11-12
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