📚 结温技术资料

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结温是衡量半导体器件内部温度的关键参数，直接影响着电子设备的性能与寿命。掌握结温控制技术对于提高电路稳定性、延长产品使用寿命至关重要。本页面汇集了1083份精选资源，涵盖从基础理论到实际应用案例，帮助工程师深入理解结温对功率MOSFET、IGBT等元件的影响，并提供有效散热解决方案。无论是初学者还是资深开发者，都能在这里找到宝贵的学习资料和技术支持。

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铂电阻测温仪的设计与实现

铂电阻测温仪的设计与实现:介绍了铂电阻测温仪的硬件及软件设计,并针对不平衡电桥中以及铂电阻的阻值和温度之间的非线性特性给温度测量带来一定的误差这一缺点,给出一种查表线性化的方法,实现了电路参数的自适应...

📅 2013-06-15 👤 yuanhong95

铂电阻测温仪的设计

基于ARM核的热释电红外测温仪的研制

热释电红外测温仪是一种利用物体热释电效应而制成的新型红外测温仪器，它以黑体辐射定律作为理论基础，是光学理论和微电子学综合发展的产物。与传统的测温方式相比，具有响应时间短、非接触、不干扰被测温场、使用寿命长、操作方便等一系列优点。本文详细介绍了热释电红外测温仪测温的基本原理和实现方法，以热释电红外测...

📅 2013-07-06 👤 kkchan200

ARM 热释电红外测温仪的研制