目前国家对手机的质量问题越来越重视，公司对于手机质量的客户满意度和返修率也-致关注。其中，GSM手机的射频问题仍然是一个影响手机质量、开发进度和生产效率的重要因素。为了保证产品的品质和性能符合GSM规范和国家标准，需要在手机测试方面建立一套完整、科学的测试体系，为此我们参照GSM规范欧洲标准、国家邮电部移动通信技术规范、国家信息产业部通信行业标准以及日常积累的测试经验编写了这份射频测试规程。本规范的目的是针对研发阶段的GSM手机提供一个较全面测试和校准的指标依据，尽量保证研发阶段GSM手机的点测指标满足FTA，CTA与批量生产点测指标要求，使手机的射频问题尽可能在研发阶段暴露出来并在量产前解决，同时为评估手机的RF点测性能、指标余量、一致性、稳定性提供参考依据，另外为不熟悉测试的新员工提供一些指导。本文主要内容包括射频指标术语解释，发射机和接收机部分射频指标的测试方法，测试结果，测试参考标准等，最后还给出了指标超标的一般分析。1于我们射频知识与经验有限，不足之处请指导
标签： 射频测试
上传时间： 2022-06-20
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PCB电路如微带电路有较为显著的介质和辐射损耗，而传统金属波导虽然损耗低、信号干扰小，但其结构很难做到小型化和集成。因此这两种结构不适用于要求低功耗且空间尺寸受限的移动终端。采用基片集成波导（SIW）可同时降低损耗和增加可集成性，其兼备了金属波导和平面电路的优良属性，是未来5G毫米波终端应用场景最佳的选项之一。本文的主要内容包括：对SIw、波柬扫描阵、缝隙天线阵和Butler知阵多波束馈电网络等基本原理进行了简要的回顾。此四方面的知识是本文所有设计的理论支撑。系统梳理了siw.缝隙天线阵的设计步骤和Butler矩阵馈电网络的分析方法。提出了将4 x4 Butler矩阵多波束馈电网络用于木来5G终端天线的设计以实现多波束宽角度高增益信号覆盖、本文选择采用了多被束方案，并结合了sG移动终端设计了适用于5G终端的4x4 Buter矩阵多波束馈电网络和缝隙天线阵，加工测试表明多波束方案基本可满足未来5G终端天线的要求。在传统4x4 Butler的基础上，提出和设计了一款改进型的4x4 SIW Butler矩阵。从理论上验证了方案的可行性且推导了各个器件须满足的条件。新设计的Butler矩阵其核心是将移相器归入到3dB定向耦合器的设计中。仿真和测试结果表明，改进型的4x4 SIW Butler矩阵不仅拥有更好的输出幅相平坦度还具有比传统4x4 SIW Butler矩阵更高的设计灵活性。设计了一款3x3 SIw Butler矩阵。首先给出了该款矩阵的设计思路来源，然后从原理上验证了此矩阵设计的可行性和详细地推导出了3x3 Butler短阵的结构和器件参数。仿真和结果表明，该型Butler矩阵比4×4 SIW Butler矩阵尺寸更小、结构更简单，但具有和4×4 SIW Buter矩阵相当的增益值和波束覆盖范围。
上传时间： 2022-06-20
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本文论述的蓝牙射频自动测试系统，以Visa构架的远程控制技术为理论基础，依据蓝牙国际标准和国家无线电管理委员会发布的蓝牙技术测试标准，基于Visual Basic环境，集成测试T控机、频谱分析仪Agilent E4440、蓝牙综测仪Agilent 4010、射频切换单元等测试仪器，实现蓝牙终端型号核准射频性能的自动化测试。本测试系统由用户在工控机上操作自动化测试软件进行测试，包含数据采集、数据处理、测试结果显示和自动生成测试报告等功能。1本文从理论入手，首先介绍了测试技术的国内外现状和发展方向，然后介绍了自动测试系统的设计原则和总体结构，接下来着重论述了蓝牙射频自动测试系统的硬件选择和软件开发。软件开发部分主要分为以下几项工作：1，上层操作界面的编写：2.底层仪表驱动函数的编写；3.测试用例的编写：4.后台数据库的编写。软件设计过程中充分利用虑拟仪器技术和平台化模块化设计方案保证系统的扩展性，移柏性和重用性。最后，本文给出了实际测试过程中测试结果的分析，可以看出，本蓝牙射频自动测试系统具有极强的稳定度和准确性，并且极大的提高了测试效率，节省了大量的人力资源和时间资源，符合现代化测试的需求。
上传时间： 2022-06-20
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在UEFI开源社区中，存在四个与UEFI BIOS相关的开源项目，分别为EDK（EFI Dev Kit），EDKII，EFI Shell和EFI Toolkit.其中，EDKII（EFI Development Kit）是一个开源的EFI BIOS的发布框架，其中包含一系列的开发示例和大量基本的底层库函数，因此，对于其MDE（Module Development Environment）模块开发环境的分析与测试能够在最大程度上保证开发的稳定性和质量。因而选题具有一定的实用性和先进性，此外，整个分析和测试设计的过程中，能够充分体现出在UEFI从事程序设计相对于传统BIOS环境下的优势。本论文计划从以下几个方面进行研究：1、学习研究UEFI（统一可拓展固件接口）技术；2、学习研究EDKII框架和相应的MDE（模块开发环境）；3、搭建MDE库的测试框架MdeTestPkg：4、编写MdeTestPkg下的测试实例，实现对MDE库的分析与测试。通过对现有的UEFT（统一可扩展固件按口）技术的学习，深入了解UEFI BIOS的背景知识。在此基础上，学习研究EDK II的整体架构和模块单元开发设计的规范和方法，并用基于EDK 11搭建MDE（模块开发环境）的测试框架，编写类库的测试实例。最终的结果是完成MDE，即模块开发环境框架中的44个库类在DXE阶段的功能分析与测试，并且由于类际的4通性，使得测试的类际能够在不同的平台架构（如：IA32，X64和IPF等）上成功运行，具有很好的稳定性和健壮性。在本论文中，我只以NT32平台架构为例，来说明MDE库在NT32平台下的测试框架的搭建以及对于MDE库类的测试实例的设计，编写和测试。
上传时间： 2022-06-26
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本规范规定了电子产品制造与应用系统防静电测试方法。本规范适用于电子产品制造应用系统防静电的检测，如：接地系统、地面地垫、墙体、工作台、台垫、工作。椅、工位器具、物流传递器具、包装用品、人体防静电防护用品
标签： 防静电检测
上传时间： 2022-07-08
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工程测试技术基础演示教程 PPT版
上传时间： 2013-05-19
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JJF 1069-2007 法定计量检定机构考核规范
上传时间： 2013-07-22
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机械设计,制造常用数据及标准规范实用手册 .PDF
上传时间： 2013-04-15
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Bluetooth RF测试－正确的无线电设计测试
上传时间： 2013-04-15
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蓝牙系统技术规范 Core v1.0B 英文
上传时间： 2013-04-15
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