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数字电路测试生成算法综述
随着数字电路的规模和复杂性不断增加，自动矢量生成技术己日益成为数字电路测试与诊断的瓶颈环节。本文主要讨论了电路的测试及故障检测的一些基本问题，并对数字电路测试生成的主要算法进行了分析和比较。最后预测了
2023-12-25
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基于混沌和遗传算法的优化测试生成算法
基于组合电路测试生成的Hopfield 神经网络模型，讨论分析了利用混沌神经网络的全局搜索能力进行测试生成的有效算法和基于遗传算法的自适应测试生成。基于混沌神经网络的算法利用混沌所表现出的遍历性与内随
2024-04-06
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