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磁场<b>抗扰度</b>

  • 标准GB17626.5-1999

    电磁兼容 试验和测量技术浪涌(冲击)抗扰度试验,GB17626.5-1999,等同采用IEC61000-4-5:1995《电磁兼容 第4部分:试验和测量技术 第5分部分:浪涌 (冲击)抗扰度试验》。从事相关工作的朋友值得参考。

    标签: 17626.5 1999 GB 标准

    上传时间: 2013-05-19

    上传用户:youke111

  • LVDS和M-LVDS电路实施指南

    低电压差分信号(LVDS)是一种高速点到点应用通信标准。多点LVDS (M-LVDS)则是一种面向多点应用的类似标准。LVDS和M-LVDS均使用差分信号,通过这种双线式通信方法,接收器将根据两个互补电信号之间的电压差检测数据。这样能够极大地改善噪声抗扰度,并将噪声辐射降至最低。

    标签: M-LVDS LVDS 电路

    上传时间: 2013-11-22

    上传用户:fhjdliu

  • ADUM3200双通道数字隔离器

    ADuM320x是采用ADI公司iCoupler® 技术的双通道数字隔离器。这些隔离器件将高速CMOS与单芯片变压器技术融为一体,具有优于光耦合器等替代器件的出色性能特征。 iCoupler器件不用LED和光电二极管,因而不存在一般与光耦合器相关的设计困难。简单的iCoupler 数字接口和稳定的性能特征,可消除光耦合器通常具有的电流传输比不确定、非线性传递函数以及温度和使用寿命影响等问题。这些iCoupler 产品不需要外部驱动器和其它分立器件。此外,在信号数据速率相当的情况下,iCoupler 器件的功耗只有光耦合器的1/10至1/6。 ADuM320x隔离器提供两个独立的隔离通道,支持多种通道配置和数据速率(请参考数据手册“订购指南”部分)。两款器件均可采用2.7 V至5.5 V电源电压工作,与低压系统兼容,并且能够跨越隔离栅实现电压转换功能。ADuM320x隔离器具有已取得专利的刷新特性,可确保不存在输入逻辑转换时及上电/关断条件下的直流正确性。 与ADuM120x隔离器相比,ADuM320x隔离器包含多项电路和布局改进,系统级IEC 61000-4-x测试(ESD、突波和浪涌)显示其性能大大增强。对于ADuM120x或ADuM320x产品,这些测试的精度主要取决于用户电路板或模块的设计与布局。 应用 --尺寸至关重要的多通道隔离 --SPI 接口/数据转换器隔离 --RS-232/RS-422/RS-485收发器隔离 --数字现场总线隔离 特性: 增强的系统级ESD保护性能,符合IEC 61000-4-x标准 工作温度最高可达:125℃ 8引脚窄体SOIC封装,符合RoHS标准 技术指标: 高共模瞬变抗扰度:>25 kV/μs 双向通信 - 3 V/5 V 电平转换 - 高数据速率:dc 至 25 Mbps(NRZ)

    标签: ADUM 3200 双通道 数字隔离器

    上传时间: 2013-10-11

    上传用户:skhlm

  • GBT 17626.13-2006 电磁兼容 试验和测量技术 交流电源端口谐波 谐间波及电网信号的低

    GBT 17626.13-2006 电磁兼容 试验和测量技术 交流电源端口谐波、谐间波及电网信号的低频抗扰度试验

    标签: 电磁兼容

    上传时间: 2021-10-28

    上传用户:

  • 电磁兼容对策和设计: 提高产品抗扰度的方法

    提高产品抗干扰能力的方法

    标签: 电磁兼容

    上传时间: 2022-05-12

    上传用户:默默

  • IEC 61000-4-5 浪涌冲击抗扰度测试标准

    IEC 61000-4-5 灯具浪涌冲击标准。

    标签: 电磁兼容

    上传时间: 2022-06-20

    上传用户:canderile

  • 电磁兼容 试验和测量技术

    GB∕T 17626.4-2018 电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验.pdf

    标签: 电磁兼容

    上传时间: 2022-06-26

    上传用户:shjgzh

  • 基于MATLAB的B样条小波程序的实现

    · 摘要:  MATLAB是一种建立在向量、数组、矩阵基础上,面向科学和工程计算的高级语言,为科学研究和工程计算提供了一个方便有效的工具.该文简要介绍了B样条和B样条小波的构成,并利用MATLAB语言编写了绘制任意阶B样条和B样条小波图形的程序.  

    标签: MATLAB 程序

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:sqq

  • 剖析Intel IA32 架构下C 语言及CPU 浮点数机制 Version 0.01 哈尔滨工业大学 谢煜波 (email: xieyubo@126.com 网址:http://purec.b

    剖析Intel IA32 架构下C 语言及CPU 浮点数机制 Version 0.01 哈尔滨工业大学 谢煜波 (email: xieyubo@126.com 网址:http://purec.binghua.com) (QQ:13916830 哈工大紫丁香BBSID:iamxiaohan) 前言 这两天翻看一本C 语言书的时候,发现上面有一段这样写到 例:将同一实型数分别赋值给单精度实型和双精度实型,然后打印输出。 #include <stdio.h> main() { float a double b a = 123456.789e4 b = 123456.789e4 printf(“%f\n%f\n”,a,b) } 运行结果如下:

    标签: Version xieyubo Intel email

    上传时间: 2013-12-25

    上传用户:徐孺

  • 问题描述 序列Z=<B

    问题描述 序列Z=<B,C,D,B>是序列X=<A,B,C,B,D,A,B>的子序列,相应的递增下标序列为<2,3,5,7>。 一般地,给定一个序列X=<x1,x2,…,xm>,则另一个序列Z=<z1,z2,…,zk>是X的子序列,是指存在一个严格递增的下标序列〈i1,i2,…,ik〉使得对于所有j=1,2,…,k使Z中第j个元素zj与X中第ij个元素相同。 给定2个序列X和Y,当另一序列Z既是X的子序列又是Y的子序列时,称Z是序列X和Y的公共子序列。 你的任务是:给定2个序列X、Y,求X和Y的最长公共子序列Z。

    标签: lt 序列

    上传时间: 2014-01-25

    上传用户:netwolf