FPGA测试方法研究
FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前广泛使用的一种可编程器件，FPGA的出现使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)产品的上市周期大大缩短，并且节省了大量的开发成本。目前FPGA的功能越来越强大，满足了...
电平测试技术资料
📦 资源总数：13314
💻 源代码：23272
🔌 电路图：1
🔥 电平测试热门资料
查看全部13314个资源 »FPGA可配置端口电路的设计
可配置端口电路是FPGA芯片与外围电路连接关键的枢纽，它有诸多功能：芯片与芯片在数据上的传递(包括对输入信号的采集和输出信号输出)，电压之间的转换，对外围芯片的驱动，完成对芯片的测试功能以及对芯片电路保护等。 本文采用了自顶向下和自下向上的设计方法，依据可配置端口电路能实现的功能和工作原理，运用Ca...
EMC测试
EMC测试资料，介绍EMC基础知识，以及测试项目等...
基于FPGA的ADC并行测试方法研究
高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实...
硬件测试报告
硬件测试报告,做硬件的朋友可以看看. 硬件测试报告,做硬件的朋友可以看看....
💻 电平测试源代码
查看更多 »📂 电平测试资料分类