导体的电感 电容 特性阻抗曲线 的ＭＡＴＬＡＢ模拟
上传时间： 2013-11-25
上传用户：hopy
Quantum专精于研发电容式感应IC, 使用其专利所有之QProx™ 技术. QProx™ 为一革命性之技术, 采用电荷转移 (“QT”)感应方法, 结合高阶之数字信号处理运算.Quantum于1996年成立, 1997年发表第一批主要产品. 经由多年的经验累积目前产品线种类及数量持续增加中. 产品种类主要以QProx™ , QMatrix™ , QTouch™ , QStamp™ 以及 QLevel™ 等品牌来区分。
上传时间： 2016-07-31
上传用户：yph853211
对电容层析成象的ECT断层图象 进行3维显示
上传时间： 2016-08-10
上传用户：hakim
表贴电容元件参数手册：105 个PDF文件，文件：ME、MH、MP、MT铝电解电容；TDK-CKCL、三星、松下、高射频功率、普军级二类军用无包封多层片式等多种系列表贴电容
上传时间： 2016-08-12
上传用户：sy_jiadeyi
在系统参数辨识过程中,未知系统介数情况下,同时辨识阶次和参数法
上传时间： 2013-12-09
上传用户：stampede
在系统辨识过程中,系统介数未知,估计模型阶次的FPE法
上传时间： 2014-12-05
上传用户：skhlm
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批准並且標準化，所以，IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。
标签： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上传时间： 2016-08-16
上传用户：sssl
VHDL语言的资料.课本讲解.对于各种编码规则都有介诏
上传时间： 2016-08-16
上传用户：wff
这是基于MSP430单片机的一个程序.包含AD过程,DA转换过程.共有4个程序,分别介始不同用法.上传以供大家学习.
上传时间： 2014-11-27
上传用户：417313137
电容规格书，可以为大家提供完成的电容尺寸数据，方便应用
标签： 电容规格书
上传时间： 2013-12-17
上传用户：TRIFCT
