温升试验
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温升试验 热门资料
查看全部 500 份 →GJB 150.4A-2009军用装备实验室环境试验方法第4部分：低温试验
我国军用标准，是许多指标的测试标准，主要用于可靠性测试。标准集合为GJB 150A，包含低温、烟雾、淋雨等许多部分。本部分为低温试验部分。
2021-10-25
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GJB 150.3A-2009军用装配实验室环境试验方法第3部分：高温试验
我国军用装备环境试验标准GJB 150A对产品的可靠性提出要求，它涵盖了气候环境、机械环境等可靠性测试，该标准的主要用户为军方、警方、电信工程、建筑工地、户外测量等需要在户外工作的用户，这些用户的工作环境容易遭受碰撞、雨水、沙尘等，导致装备...
2021-10-25
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GBT2423.22-2002 电工电子产品环境试验第2部分 试验方法 试验n 温度变化.pdf
资料->【B】电子技术->【B6】品质管理->【1】标准规范（国标、行标、安规、规范）->【国标 GB】->GB 2421、2423 电工电子产品基本环境试验规程->GBT2423.22-2002 电工电子产品环境试验第2部分 试验方法 试...
2024-10-20
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GBT2423.01-2001 电工电子产品环境试验规程第2部分 试验a 低温试验方法.pdf
资料->【B】电子技术->【B6】品质管理->【1】标准规范（国标、行标、安规、规范）->【国标 GB】->GB 2421、2423 电工电子产品基本环境试验规程->GBT2423.01-2001 电工电子产品环境试验规程第2部分 试验a ...
2024-11-24
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GBT2423.02-2001 电工电子产品环境试验规程第2部分 试验b 高温试验方法.pdf
资料->【B】电子技术->【B6】品质管理->【1】标准规范（国标、行标、安规、规范）->【国标 GB】->GB 2421、2423 电工电子产品基本环境试验规程->GBT2423.02-2001 电工电子产品环境试验规程第2部分 试验b ...
2024-12-06
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IGBT瞬态结壳温升计算
热阻是评价IGBT可靠性的重要指标.寻找简便高精度的测量方法对IGBT热阻进行测试具有十分重要的意义.根据JESD51—14中的瞬态热阻抗定义式,提出了一种可以快速、准确计算IGBT模块结壳热阻的方法
2022-06-26
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