测试算法
测试算法技术资料下载专区,收录500份相关技术文档、开发源码、电路图纸等优质工程师资源,全部免费下载。
资源总数
500
测试算法 全部资料 500 份
谊邦电子-半导体测试专家-IGBT测试-功率器件测试-分立器件全参数测试
西安谊邦电子 公司引进美国的先进半导体测试技术,在此基础上研制生产了YB6000系列半导体分立器件测试系统,该测试系统拥有功率大、速度快、精度高、测试种类全等技术特点,各项技术指标均达到国际领先水平。其雄厚的技术实力,多年的开发产品经验和独...
2013-10-30
34
FAST apriori.cpp 基于数组和为运算的apriori算法实现,采用为运算来测试子集的存在性
FAST apriori.cpp 基于数组和为运算的apriori算法实现,采用为运算来测试子集的存在性,把测试子集存在性的复杂度由O(n^2)降低为O(n)
2016-10-25
54
测试stc89C58单片机 测试stc89C58单片机 测试stc89C58单片机DEMO 程序
测试stc89C58单片机 测试stc89C58单片机 测试stc89C58单片机DEMO 程序
2014-01-06
142