测试生成
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随着数字集成电路设计及制造工艺技术的发展，集成电路的规模越来越大，结构日益复杂，电路的测试变得越发困难。解决测试问题的一个好办法是使用可测性设计。内建自测试是一种重要和常用的可测性设计技术，其关键在于测试向量生成器的设计。 本文在阐述数字集...
2023-09-26
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