测试功能
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一种低功耗BIS 测试方法
通过分析 RTL 的代码和RTL 的故障仿真可得到一组屏蔽向量，将这些屏蔽向量和随机向量应用到门级进行故障测试可提高系统的故障覆盖率并降低测试功耗。本文主要论述了利用RTL 的功能信息进行低功耗BIS
2024-01-27
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LPC2200系列ARM芯片的FLASH功能测试,调用IAP服务程序
LPC2200系列ARM芯片的FLASH功能测试,调用IAP服务程序，完成FLASH编程操作,上位机使用EASYARM软件 Ads1.2。
2015-11-01
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max7219 led drive program 包括/功能函数定义和测试程序显示
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2015-11-24
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lpc-h22xx.zip 一款LPC2214开发板的代码。功能是测试开发板
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2013-12-28
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