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01-学习环境安装vedio 02-愉快的开端helloworld_vedio 03-数据类型与运算符_vedio 04-流程控制_vedio 05-数组和字符串_vedio 06-字符串练习与函数第一讲_vedio 07-函数第二讲_vedio 08-指针第一讲_vedio 09-指针第二讲_vedio 10-内存管理_vedio 11-复合类型_vedio 12-联合体-枚举typedef与文件操作第一讲_vedio 13-文件操作第二讲_vedio 14-基础数据结构_vedio 15-项目实战-编写IDE集成开发环境_vedio 16-项目实战-电子词典快译通_vedio …………
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本书详细介绍了CPLD/FPGA常用模块与综合应用系统设计的方法与技巧。全书共分为3篇22章，第1篇为基础知识篇，简要介绍了CPLD/FPGA硬件结构知识、VHDL硬件编程语言、Verilog与SystemC编程、常用开发工具；第2篇为常用模块设计实例篇，通过14个模块设计实例，详细介绍了CPLD/FPGA的各种开发技术和使用技巧，这些模块实例几乎涵盖了所有的CPLD/FPGA开发技术；第3篇为综合系统设计实例篇，通过4个综合系统实例，对前面的CPLD/FPGA常用模块进行了综合应用设计。
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电子元器件抗ESD技术讲义:引 言 4 第1 章 电子元器件抗ESD损伤的基础知识 5 1.1 静电和静电放电的定义和特点 5 1.2 对静电认识的发展历史 6 1.3 静电的产生 6 1.3.1 摩擦产生静电 7 1.3.2 感应产生静电 8 1.3.3 静电荷 8 1.3.4 静电势 8 1.3.5 影响静电产生和大小的因素 9 1.4 静电的来源 10 1.4.1 人体静电 10 1.4.2 仪器和设备的静电 11 1.4.3 器件本身的静电 11 1.4.4 其它静电来源 12 1.5 静电放电的三种模式 12 1.5.1 带电人体的放电模式(HBM) 12 1.5.2 带电机器的放电模式（MM） 13 1.5.3 充电器件的放电模型 13 1.6 静电放电失效 15 1.6.1 失效模式 15 1.6.2 失效机理 15 第2章 制造过程的防静电损伤技术 2.1 静电防护的作用和意义 2.1.1 多数电子元器件是静电敏感器件 2.1.2 静电对电子行业造成的损失很大 2.1.3 国内外企业的状况 2.2 静电对电子产品的损害 2.2.1 静电损害的形式 2.2.2 静电损害的特点 2.2.3 可能产生静电损害的制造过程 2.3 静电防护的目的和总的原则 2.3.1 目的和原则 2.3.2 基本思路和技术途径 2.4 静电防护材料 2.4.1 与静电防护材料有关的基本概念 2.4.2 静电防护材料的主要参数 2.5 静电防护器材 2.5.1 防静电材料的制品 2.5.2 静电消除器（消电器、电中和器或离子平衡器） 2.6 静电防护的具体措施 2.6.1 建立静电安全工作区 2.6.2 包装、运送和存储工程的防静电措施 2.6.3 静电检测 2.6.4 静电防护的管理工作 第3章 抗静电检测及分析技术 3.1 抗静电检测的作用和意义 3.2 静电放电的标准波形 3.3 抗ESD检测标准 3.3.1 电子元器件静电放电灵敏度（ESDS）检测及分类的常用标准 3.3.2 标准试验方法的主要内容（以MIL-STD-883E 方法3015.7为例） 3.4 实际ESD检测的结果统计及分析 3.4.1 试验条件 3.4.2 ESD评价试验结果分析 3.5 关于ESD检测中经常遇到的一些问题 3.6 ESD损伤的失效定位分析技术 3.6.1 端口I－V特性检测 3.6.2 光学显微观察 3.6.3 扫描电镜分析 3.6.4 液晶分析 3.6.5 光辐射显微分析技术 3.6.6 分层剥离技术 3.6.7 小结 3.7 ESD和EOS的判别方法讨论 3.7.1 概念 3.7.2 ESD和EOS对器件损伤的分析判别方法 第4 章 电子元器件抗ESD设计技术 4.1 元器件抗ESD设计基础 4.1.1抗ESD过电流热失效设计基础 4.1.2抗场感应ESD失效设计基础 4.2元器件基本抗ESD保护电路 4.2.1基本抗静电保护电路 4.2.2对抗静电保护电路的基本要求 4.2.3 混合电路抗静电保护电路的考虑 4.2.4防静电保护元器件 4.3 CMOS电路ESD失效模式和机理 4.4 CMOS电路ESD可靠性设计策略 4.4.1 设计保护电路转移ESD大电流。 4.4.2 使输入/输出晶体管自身的ESD阈值达到最大。 4.5 CMOS电路基本ESD保护电路的设计 4.5.1 基本ESD保护电路单元 4.5.2 CMOS电路基本ESD保护电路 4.5.3 ESD设计的辅助工具－TLP测试 4.5.4 CMOS电路ESD保护设计方法 4.5.5 CMOS电路ESD保护电路示例 4.6 工艺控制和管理
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适用于初学者，含C语言基础知识详解，常用源代码精析等部分
标签： c语言
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本书主要介绍了以电子技术实现的各种测量方法，全书分为四章，第一章为电子测量基础知识，第二章为模拟测量方法，第三章为数字测量方法，第四章介绍用屏幕显示方式实现的测量方法，从测量要求出发，引出测量方法，给出实用电路，元器件参数齐全，内容丰富，深入浅出，便于读者阅读。本书可供从事电子技术、自动化、计算机等方面的工程技术人员和电子爱好者自修和参考，也可作为大、中专学校电子专业类使用。
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本书是模拟集成电路设计领域的一本新书，提供了模拟集成电路分析和设计的新观点。作者首先对MOST和BJT两种器件模型进行了分析和比较，然后以此为两条线索，分别介绍了相应的基本单元电路和各类放大器的详细分析，随后的章节分别研究噪声、失真、滤波器、ADC／DAC和振荡器电路，每一章都结合MOST和BJT两种类型电路进行分析比较。本书一方面侧重于基础知识，对模拟和混合信号集成电路中的许多重要概念以直观形象的语言进行了描述．另一方面又侧重介绍与现代集成电路工艺相关的最新电路的研究方向和热点。本书绝大部分的设计实例均来源于、JSSC和ISSCC论文。
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本书首先从单片机基础、c语言、开发编译环境、典型资源编程、单片机通信等几个方面介绍了8051系列单片机c程序设计所应掌握的基础知识，内容全面、讲解清楚。然后通过工程开发实例和典型模块应用实例两部分内容系统地介绍单片机系统设计的方法使理论与实际相结合。 本书可以作为大学本、专科单片机技术课程的教材，也可作为8051系列单片机c程序设计开发的技术人员以及高等学校相关专业师生的参考用书。
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本书主要介绍了运用Visual C++ 5.0或6.0的高级编程技巧，内容涉及MFC程序设计的最新概念，全书提供了大量VC的编程实例，旨在帮助读者较为全面地掌握VC编程知识、技巧和方法。全书分为三个部分和附录。第一部分介绍Windows编程的基础知识，第二部分讲解用户界面编程技巧，最后一部分涉及Windows内部进程的一些实例。本书思路清晰，实用性强，是计算机应用人员及大专院校师生不可多得的参考书。
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