测试技术专辑 134册 1.93G@@ 2006年无损检测与探伤应用技术标准手册 3521页 58.8M.pdf
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上传时间: 2014-05-05
上传用户:时代将军
测试技术专辑 134册 1.93G数字测量系统的标准接口 111页 1.9M.pdf
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上传时间: 2014-05-05
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测试技术专辑 134册 1.93G@@ 现代无损检测新技术新工艺与应用技术标准大全2 3140页 59.7M.pdf
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上传时间: 2014-05-05
上传用户:时代将军
极限模板测试的ANSI类模板的业界标准模板
标签: ANSI
上传时间: 2015-05-19
上传用户:paradox
国内与国外LED行业现有相关测试标准!!
标签: LED
上传时间: 2016-04-09
上传用户:懒丶ling
软件工程标准模板,基于国家最新标准规范,需求分析,概要设计,可行性分析,详细设计,测试等
上传时间: 2017-12-10
上传用户:ItalyCannon
可测试性设计(Design-For-Testability,DFT)已经成为芯片设计中不可或缺的重要组成部分。它通过在芯片的逻辑设计中加入测试逻辑提高芯片的可测试性。在高性能通用 CPU 的设计中,可测试性设计技术得到了广泛的应用。本文结合几款流行的 CPU,综述了可应用于通用 CPU 等高性能芯片设计中的各种可测试性方法,包括扫描设计(Scan Design),内建自测试(Built-In Self-Test,BIST),测试点插入(Test Point Insertion),与 IEEE 1149.1标准兼容的边界扫描设计(Boundary Scan Design,BSD)等技术。
上传时间: 2021-10-15
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硬件和测试工程师查阅的资料,详细介绍单板硬件的测试条目和测试标准。
标签: 单板硬件测试
上传时间: 2022-02-03
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数字电子技术基础实验+标准集成电路数据手册--TTL电路 高速CMOS电路接口电路 电子书4本合集电子、通信、计算机、信息与自动控制等专业开设的《数字电子技术 基础》及其实验等专业基础课,旨在加深学生对理论知识的理解,培养学 生分析、设计、组装和调试数字电路的基本技能,掌握科学的实验方法, 为以后其它专业课的学习打下坚实的基础。为此,应加强各种形式的实践 活动。 随着科学技术的发展,尤其是微电子技术和计算机技术的发展,数字电 路的实验手段不断得到更新、完善和发展。除了采用常规的 TTL、COMS 器件 (逻辑门电路,触发器,计数器等)进行实验外,以后将逐步走向使用 PLD (可编程逻辑器件)进行实验、开发。采用 CPLD/FPGA 可编程逻辑器件,借 助计算机辅助设计软件进行数字电路的设计,这种硬件软件化的方法具有设 计容易,修改和调试方便的优点,有效的提高了实验效率。 本书根据教育部启动的“面向 21 世纪高等工程教育教学内容和课程体 系改革计划”的要求,在厂家所提供的资料及设备基础上编写而成,涵盖了 《数字电子技术基础》课程全部实验内容,建立一种综合性、开放性、设计 性和创造性的实验教学模式,可根据专业教学要求选择实验内容。 实验内容的安排遵循由浅入深,由易到难的原则,考虑不同层次需要, 既有测试、验证的内容,也有设计、研究的内容,可以充分发挥学生的主动 性和创造性,进一步提高学生的实验技能和理论分析能力。
上传时间: 2022-03-20
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M|P|标准综述MPHY概况MPHY的测试测试」RX测试s参数和阻抗测试DigRF.UniPro和L协议的测试
上传时间: 2022-04-02
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