晶圆测试
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ATEML AT91SAM9260测试程序。AT91SAM9260 SD卡测试程序。
ATEML AT91SAM9260测试程序。AT91SAM9260 SD卡测试程序。
2017-08-15
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LTE终端测试规范36.521测试项解析
TD-LTE终端(UE)的功率有4个等级。当前只定义了功率等级3的要求,要求对于所有的TDD频段,在信道带宽内任何发射带宽下的最大输出功率为23dBm,容限为士2dB。发射功率的测量时间至少是一个子帧(1ms)。上述的容限适用于最多支持4个...
2022-08-20
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高速ADC、DAC测试原理及测试方法
随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高,以及对于系统灵敏度等要求的不断提高,对于高速、高精度的ADC、DAC的指标都提出了很高的要求。比如在移动通信、图像采集等应用领域中,一方面要求ADC有比较高的采样率以采集高带宽的输入信号,另一方...
2022-06-19
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圆光栅测角系统信号细分电路设计
为提高圆光栅传感器对角度进行数字测量的精度和分辨力,使其更加广泛方便的应用于航天、机器人控制等领域中,设计了圆光栅角度测量系统及其测角信号移相电阻链细分电路,其将测得的原始的光栅正余弦信号施加在电阻链两端,在电阻链的接点上得到幅值和相位各不...
2014-01-04
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