📚 晶体管测试仪技术资料

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晶体管测试仪是电子工程师不可或缺的工具，专为精确测量和分析各种晶体管参数而设计。广泛应用于半导体制造、电路调试及教学研究等领域，帮助技术人员快速准确地评估晶体管性能。本页面汇集了530个精选资源，包括最新技术文档、实用教程与案例分析等，助力您深入理解晶体管工作原理及其在实际项目中的应用技巧。无论是初学者还是资深专家，都能在这里找到宝贵的学习资料和技术支持。

🔥 晶体管测试仪热门资料

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FPGA数字存储扫频仪（源代码+电路图+PCB图）

　　频率特征测试仪是用来测量电路传输特性和阻抗特性的仪器，简称扫频仪。扫频信号源是扫频仪的主要功能部件，作用是产生测量用的正弦扫频信号，其扫频范围可调，输出信号幅度等幅。本设计采用DDS（数字频率合成技术）产生扫频信号，以Xilinx FPGA为控制核心，通过A/D和D/A等接口电路，实现扫频...

📅 2013-10-19 👤 xiaoxiang

FPGA PCB 数字存储扫频仪

TD-LTE系统中MAC层子帧调度研究与实现

为满足TD-LTE系统对实时性的要求，通过对媒体接入控制（MAC）层和物理层之间的实时性研究以及对操作系统Nucleus PLUS的机制分析，实现了MAC层子帧调度。根据TD-LTE无线综合测试仪中的设计要求，详细介绍了Nucleus PLUS任务循环调度以及MAC子帧调度的流程设计。在实现MAC层...

📅 2013-11-10 👤 royzhangsz

TD-LTE MAC 帧