时间测试
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时间测试 相关的电子技术资料，包括技术文档、应用笔记、电路设计、代码示例等，共 109 篇文章，持续更新中。
三态门总线传输电路的Multisim仿真方案
<span id="LbZY">基于探索仿真三态门总线传输电路的目的，采用Multisim10仿真软件对总线连接的三态门分时轮流工作时的波形进行了仿真实验测试，给出了仿真实验方案，即用Multisim仿真软件构成环形计数器产生各个三态门的控制信号、用脉冲信号源产生各个三态门不同输入数据信号，用Multisim仿真软件中的逻辑分析仪多踪同步显示各个三态门的控制信号、数据输入信号及总线输出信号波形，结
MOS管驱动基础和时间功耗计算
MOS关模型
<P>Cgs：由源极和沟道区域重叠的电极形成的，其电容值是由实际区域的大小和在不同工作条件下保持恒定。Cgd：是两个不同作用的结果。第一JFET区域和门电极的重叠，第二是耗尽区电容（非线性）。等效的Cgd电容是一个Vds电压的函数。Cds：也是非线性的电容，它是体二极管的结电容，也是和电压相关的。这些电容都是由Spec上面的Crss，Ciss和Coss决定的。由于Cgd同时在输入和输
ISA总线多通道控制电路方案
该电路集成了16路光耦隔离输入电路和8路继电器输出电路，可在ISA总线的控制下完成数据信号、指令信号和电源信号的输入输出。实际应用结果表明，该多通道控制电路的信号分配传输频率可达6.5 MHz，完全达到设计要求；该电路按国家军用标准设计定型，在测试领域具有广阔的应用前景。<br />
<img alt="" src="http://dl.eeworm.com/ele/img/177094-1202
电子学名词介绍
电子学名词<BR>1、 电阻率---又叫电阻系数或叫比电阻。是衡量物质导电性能好坏的一个物理量，以字母ρ表示，单位为欧姆*毫米平方/米。在数值上等于用那种物质做的长1米截面积为1平方毫米的导线，在温度20C时的电阻值，电阻率越大，导电性能越低。则物质的电阻率随温度而变化的物理量，其数值等于温度每升高1C时，电阻率的增加与原来的电阻电阻率的比值，通常以字母α表示，单位为1/C。<BR>2、 电阻的温
一种改进的动态反馈负载均衡算法
<span id="LbZY"> 在集群系统中，负载均衡算法是影响系统性能的关键因素之一。为了进一步提高集群系统的性能，有必要对负载均衡算法进行优化。通过对最小连接算法和DFB（Dynamic Feed-Back）算法的详细分析，提出了一种改进的动态反馈负载均衡算法。该算法通过收集每台服务器的实时性能参数，动态地计算出各服务节点的分配概率，并由此决定用户请求分配给哪一个服务节点。通过对上
应用工程师解答-零漂移运算放大器
<p>零漂移放大器可动态校正其失调电压并重整其噪声密度。自稳零型和斩波型是两种常用类型，可实现 nV 级失调电压和极低的失调电压时间/温度漂移。放大器的 1/f 噪声也视为直流误差，也可一并消除。零漂移放大器为设计师提供了很多好处：首先，温漂和 1/f 噪声在系统中始终起着干扰作用，很难以其它方式消除，其次，相对于标准的放大器，零漂移放大器具有较高的开环增益、电源抑制比和共模抑制比，另外，在相同的
CMOS和TTL电路探讨
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通常以为TTL门的速度高于“CMOS门电路。影响TTL门电路工作速度的主要因素是电路内部管子的开关特性、电路结构及内部的各电阻数值。电阻数值越大，作速度越低。管子的开关时间越长，门的工作速度越低。门的速度主要体现在输出波形相对于输入波形上有“传输延时”tpd。将tpd与空载功耗P的乘积称“速度-功耗积”，做为器件性能的一个重要指
石英晶体振荡器性能参数测试系统研究
<span id="LbZY">文章介绍了石英晶体振荡器的特点及性能参数，由于人工测量繁琐，且容易出错等不足，提出了一种智能测量方法。该方法利用计算机控制技术，实现自动测试石英晶体振荡器的性能参数，并打印测试结果，减少了强度，提高了检测效率。<br />
<img alt="" src="http://dl.eeworm.com/ele/img/31-130H4163615J8.jpg" styl
一种改进的基于时间戳的空间音视频同步方法
<span id="LbZY">空间多媒体通信过程中存在的不可预测的分组数据丢失、乱序，可变的链路传输及处理时延抖动以及收发端时钟不同步与漂移等问题，这可能导致接收端在对音视频数据进行显示播放时产生音视频不同步现象。为了解决此问题，提出了一种改进的基于时间戳的空间音视频同步方法，该方法采用一种相对时间戳映射模型，结合接收端同步检测和缓冲设计，能够在无需全网时钟和反馈通道的情况下，实现空间通信中的音
基于DDFS的程控音频仪器测试信号源设计
<span id="LbZY">文中介绍一种基于DDFS（直接频率合成）技术的可编程音频仪器测试信号源设计。该系统采用单片机作为控制器，以FPGA（现场可编程门阵列）作为信号源的主要平台，利用DDFS技术产生一个按指数衰减的频率可调正弦衰减信号。测试结果表明，该系统产生的信号其幅度可以按指数规律衰减；其频率可以在1～4 KHz频率范围内按1 Hz步长步进。可以方便的用于测试音频仪器设备的放大和滤波
低功耗高速跟随器的设计
提出了一种应用于CSTN-LCD系统中低功耗、高转换速率的跟随器的实现方案。基于GSMC±9V的0.18 μm CMOS高压工艺SPICE模型的仿真结果表明，在典型的转角下，打开2个辅助模块时，静态功耗约为35 μA；关掉辅助模块时，主放大器的静态功耗为24 μA。有外接1 μF的大电容时，屏幕上的充放电时间为10 μs；没有外接1μF的大电容时，屏幕上的充放电时间为13μs。验证表明，该跟随器能
精密运算放大器自动校零
运算放大器集成电路，与其它通用<BR>集成电路一样，向低电压供电方向发<BR>展，普遍使用3V供电，目的是减少功<BR>耗和延长电池寿命。这样一来，运算放<BR>大器集成电路需要有更高的元件精度和<BR>降低误差容限。运算放大器一般位于电<BR>路系统的前端，对于时间和温度稳定性<BR>的要求是可以理解的，同时要改进电路<BR>结构和修调技术。当前，运算放大器是<BR>在封装后用激光修调和斩波器稳
高速数字电路测试技术
高速数字电路测试技术
MILMEGA新款EMC测试放大器
2010年4月13日， 专业设计和制造固态高功率宽带放大器的MILMEGA公司于2010年亚太区电磁兼容(APEMC)国际学术大会及展览会期间宣布推出一款新的放大器产品。该款产品主要针对商用EMC测试IEC 61000-4-3 标准(覆盖频率范围为80 MHz～1 GHz)。MILMEGA的这一新产品将给EMC测试领域带来革命性的突破。
机械工程测试技术基础
<P>课程教学情况简介（课程内容设计是否符合科学性、先进性和教育教学的规律，教学内容的组织与安排，运用现代信息技术情况，课程及教学改革情况，理论教学与实践教学结合情况，教学效果等）</P>
<P>测试技术是机械工程学院本科生的一门专业技术基础课，其研究的对象是机械工程动态测试中常用的传感器、中间变换电路及记录仪器的工作原理，以及其静、动态特性的评价方法和测试信号分析、处理及几种常用物理量的动态测试
调频调制度监视仪/监视器/分析仪
该款立体声调制度监视仪/分析仪可以保证FM发射记优质工作和 FM 电台保持在最大的调制电平或对发射机的性能进行检测。根据全美和国际标准，该款监视仪特设频率合成的RF预选器，可按50KHZ档预选频率。精确 的 基带解调，PLL 立体声信道解码，线性相位滤波器，为监视调制度电平和性能的检测提供了全面的方便的测试。多路音频输入可供检测和外接失真仪。该款仪器外接天线时可与低电平 RF输入端连接，也可经传输
3GHz射频信号源模块GR6710
产品概要： 3GHz射频信号源模块GR6710是软件程控的虚拟仪器模块，可以通过测控软件产生9kHz到3GHz的射频信号源和AM/FM/CW调制输出，具有CPCI、PXI、SPI、RS232、RS485和自定义IO接口。 产品描述： 3GHz射频信号源模块GR6710是软件程控的虚拟仪器模块，可以通过测控软件产生9kHz到3GHz的射频信号源和AM/FM/CW调制输出，还可以通过IQ选件实现其它任
自动跟踪工频陷波器的研究与设计
<span style="color: rgb(0, 0, 0); font-family: 'Trebuchet MS', Arial; font-size: 11.818181991577148px; line-height: 21px; ">介绍了一种新型线性自动跟踪工频陷波器的电路结构。该陷波器应用于电子束曝光机束流测量电路中，用来抑制工频干扰对测量精度的影响。基于对自动跟踪陷波器的基本工
高等模拟集成电路
近年来，随着集成电路工艺技术的进步，电子系统的构成发生了两个重要的变化： 一个是数字信号处理和数字电路成为系统的核心，一个是整个电子系统可以集成在一个芯片上（称为片上系统)。这些变化改变了模拟电路在电子系统中的作用，并且影响着模拟集成电路的发展。 数字电路不仅具有远远超过模拟电路的集成规模，而且具有可编程、灵活、易于附加功能、设计周期短、对噪声和制造工艺误差的抗扰性强等优点，因而大多数复杂系统以数
X波段低相噪跳频源的设计
<span style="color: rgb(0, 0, 0); font-family: 'Trebuchet MS', Arial; line-height: 21px; ">结合直接数字频率合成（DDS）和锁相环（PLL）技术完成了X波段低相噪本振跳频源的设计。文章通过软件仿真重点分析了本振跳频源的低相噪设计方法，同时给出了主要的硬件选择和详细电路设计过程。最后对样机的测试结果表明，本方案