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边扫描测试是在20世纪80年代中期做为解决PCB物理访问问题的JTAG接口发展起来的，这样的问题是新的封装技术导致电路板装配日益拥挤所产生的。边界扫描在芯片级层次上嵌入测试电路，以形成全面的电路板级测试协议。

2024-05-24 9 文字扫描

《数字逻辑电路的ASIC设计》是2004年9月1日科学出版社出版的图书，作者是（日）小林芳直。内容简介本书是“实用电子电路设计丛书”之一。本书以实现高速高可靠性的数字系统设计为目标，以完全同步式电路为基础，从技术实现的角度介绍ASIC逻辑电...

2022-09-29 8 文字扫描