数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计(影印版)
·书中包括的索引使你能够根据自己的需要,直接阅读你所关注的内容。主要内容包括:设计核心,关注嵌入核心和嵌入存储器;系统集成和超大规模集成电路的设计问题;AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计;内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST;虚拟测试套接字和隔离测试 ·重用设计,包括重用...
·书中包括的索引使你能够根据自己的需要,直接阅读你所关注的内容。主要内容包括:设计核心,关注嵌入核心和嵌入存储器;系统集成和超大规模集成电路的设计问题;AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计;内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST;虚拟测试套接字和隔离测试 ·重用设计,包括重用...
fpga的理解性word,对设计有帮助,延迟,效率问题等...
FPGA和DSP的设计可靠性及可维护性对比.pdf...
数字容性隔离器的应用环境通常包括一些大型电动马达、发电机以及其他产生强电磁场的设备。暴露在这些磁场中,可引起潜在的数据损坏问题,因为电势(EMF,即这些磁场形成的电压)会干扰数据信号传输。由于存在这种潜在威胁,因此许多数字隔离器用户都要求隔离器具备高磁场抗扰度 (MFI)。许多数字隔离器技术都声...
本电路提供一种扩展AD7745/AD7746容性输入范围的方法。同时,还说明如何充分利用片内CapDAC,使范围扩展系数最小,从而优化电路,实现最佳性能。AD7745具有一个电容输入通道,AD7746则有两个通道。每个通道均可配置为单端输入或差分输入方式。 ...