损伤全部资料 - 虫虫开发者社区

结合功率MOSFET管不同的失效形态，论述了功率MOSFET管分别在过电流和过电压条件下损坏的模式，并说明了产生这样的损坏形态的原因，也分析了功率MOSFET管在关断及开通过程中发生失效形态的差别，从而为失效在关断或在开通过程中发生损坏提供...

2013-11-14 155 损伤

专辑类-测试技术专辑-134册-1.93G 美国无损检测手册-超声卷（下册）678页-11.2M.pdf

2013-04-24 39 损伤

专辑类-测试技术专辑-134册-1.93G 美国无损检测手册-超声卷（上册）655页-11.0M.pdf

2013-04-24 76 损伤

2014-01-23 80 损伤

Microsoft Visual C++ 6.0环境下的无损压缩测试工程，实现了LZW77算法，压缩效率和速度都不错。

2013-12-26 46 损伤

这是操作NAND flash的平均损耗文件系统YAFFS，有助于开发者对文件系统的了解和应用。

2014-12-04 117 损伤

2017-09-06 156 损伤

基于嵌入式非金属超声无损检测系统研究.pdf

2025-12-25 2 损伤

该文档为功率半导体元件的损耗计算分析方法讲解文档，是一份很不错的参考资料，具有较高参考价值，感兴趣的可以下载看看………………

2022-01-25 3 损伤

在大功率DC/DC开关电源中,为了获得更大的功率，特别是为了得到大电流时，经常采用N个单元并联的方法。多个单元并联具有高可靠性，并能实现电路模块标准化等优点。然而在并联中遇到的主要问题就是电流不均，特别在加重负载时，会引起较为严重的后果。普...

2022-09-22 9 损伤

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