扫描模块

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边扫描测试是在20世纪80年代中期做为解决PCB物理访问问题的JTAG接口发展起来的，这样的问题是新的封装技术导致电路板装配日益拥挤所产生的。边界扫描在芯片级层次上嵌入测试电路，以形成全面的电路板级测试协议。

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1．6个数码管动态扫描显示驱动 2．按键模式选择(时\分\秒)与调整控制 3．用硬件描述语言(或混合原理图)设计时、分、秒计数器模块、按键控制状态机模块、动态扫描显示驱动模块、顶层模块。要求有闹钟定闹功能，时、分定闹即可，无需时、分、秒...

2016-08-02 193 扫描模块