扫描检测
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边扫描测试
边扫描测试是在20世纪80年代中期做为解决PCB物理访问问题的JTAG接口发展起来的,这样的问题是新的封装技术导致电路板装配日益拥挤所产生的。边界扫描在芯片级层次上嵌入测试电路,以形成全面的电路板级测试协议。
2024-05-24
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功能:windows下直接检测键盘的扫描码
功能:windows下直接检测键盘的扫描码, 语言:asm 特色:它是对bios低层的中断调用的很好应用实例,对ps/2键盘的处理很有参考价值
2015-09-07
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CCD扫描缺陷检测实时数据处理技术
在诸多行业的材料及材料制成品中,表面缺陷是影响产品质量的重要因素之一。研究具有显微图像实时记录、处理和显示功能的材料表面缺陷检测技术,对材料的分选和材料质量的检查及评价具有重要的意义。 本文以聚合物薄膜材料为被测对象,研究了适用于材料表面缺...
2013-05-19
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