扫描技术
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边扫描测试
边扫描测试是在20世纪80年代中期做为解决PCB物理访问问题的JTAG接口发展起来的,这样的问题是新的封装技术导致电路板装配日益拥挤所产生的。边界扫描在芯片级层次上嵌入测试电路,以形成全面的电路板级测试协议。
2024-05-24
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USB2.0技术在生物芯片扫描仪荧光图像采集中的应用
· 摘要: 介绍了基于USB2.0和DSP的激光共聚焦生物芯片扫描仪荧光图像采集系统,并详细讨论了采用Cypress公司EZ-USB FX2系列中的CY7C68013的USB2.0接口,给出了用户自定义控制传输和基于E...
2024-06-12
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