电火花线切割加工是一种高精度和高柔性的加工方法，在模具制造、成形刀具加工、难加工材料和精密复杂零件的加工等方面得到了广泛的应用。数控系统是数控机床的核心，开发出低成本、高效率的开放式电火花线切割加工数控系统具有十分重要的现实意义。 本文首先提出了基于ARM及嵌入式Linux的往复走丝电火花线切割数控系统的开发方案。采用ARM微处理器+AVR单片机接口电路作为电火花线切割数控系统的硬件平台。 通过构建2.6内核版本的嵌入式Linux系统，并将嵌入式GUI解决方案QtopiaCore4移植到该系统，建立了交叉编译环境，在此基础上成功地开发了高速走丝电火花线切割加工数控系统软件原型，并设计了单片机接口电路，使用C语言编写了相应的控制程序，实现了数控轴驱动步进电机的控制。 最后，本文建立了数控系统的调试环境，并对开发的数控系统软件进行了联机调试、系统软件测试和实例加工。测试和实例加工结果表明，基于ARM和嵌入式Linux的电火花线切割加工数控系统技术途径的可行性，并实现了预期的数控功能。
上传时间： 2013-04-24
上传用户：wsh1985810
在现代电网中，随着超高压、大容量、远距离输电线路的不断增多，对电力系统的安全稳定运行提出了更高、更严格的要求。距离保护作为线路保护的基本组成部分，其工作特性对电力系统的安全稳定运行有着直接和重要的影响。为了适应现代超高压电网稳定运行的要求，微机保护装置在硬件和软件上都提出了越来越高的要求。 高速数字信号处理芯片（DSP）技术的发展，为开发一种速度快、处理能力强的微机保护系统奠定了基础。在这样的背景下，我们采用DSP芯片和ARM处理器，设计了一个并列式双处理器微机保护系统。该系统采用一个DSP芯片负责控制数据采集、采样数据处理，实现保护功能。ARM微处理器承担人机接口管理，通过串行通信方式实现与DSP端口之间的数据通信，丰富的通讯接口，使得与上位机的通讯、下载程序定值灵活方便。新的微机保护装置不断推出，投入运行的微机保护装置不允许用来进行试验、培训，该装置还可作为试验教学系统，供学生学习认识微机保护装置的内部结构，并可自行设计保护算法、编制程序，通过上位机下载到实验装置，完成相应保护功能的测试。 本文实现了微机保护方案的整体软硬件设计，内容包括DSP2812微处理器芯片，ARM7微处理器LPC2220芯片，开关量输入／输出电路、数据采集电路、通讯和网络接口电路、人机界面的显示板电路，文中对各部分电路的功能、特点以及器件的选择、引脚连接进行了详细介绍。系统采用模块化设计，采用双CPU并行处理模式，针对基于LPC2220微处理器的监控管理系统，完成了最小系统设计，详细完成了启动电路的设计。 本文初步设计了人机操作界面，给出了软件设计的流程图，将实时操作系统μC/OS-Ⅱ与模块化硬件设计相结合，共同构成一个可以重复利用的软硬件数字系统平台，除了可以最大限度地提高开发的效率、减少资源的浪费外，还可以通过长期对于该平台的研究，逐步优化平台软硬件资源，提高其性能，并满足日益复杂的应用需求。
上传时间： 2013-04-24
上传用户：superhand
本文介绍了一种基于AVR 单片机Atmel 169，与旋转编码器AS5040 及3966 控制直流电机构成的电风扇360 度内摇头角度调节装置的实现，设计了AS5040 旋转编码器接口电路、P
上传时间： 2013-05-19
上传用户：cath
随着社会的不断进步，人们的生活与银行的关系越来越密切，在银行办理业务占去了人们很大一部分时间，据日常生活经验，在银行办理业务的人均排队时间达到了两个小时，这种等待大大的影响了人们的生活质量。为了解决这个问题，本文设计了一种具有操作方便、价格低廉等特性的银行缴费系统，该系统以当前强大的网络系统为基础，能够让用户足不出户就可以向银行缴纳水、电、燃气、电话等费用，极大的方便了人们的生活，具有广泛的应用前景。 本文首先介绍了银行卡缴费系统的硬件设计方案，包括串口、JTAG、以太网、音频、USB、LCD触摸屏等接口电路的设计及各模块之间的关联关系；接着详细介绍了基于单片机的磁卡读卡器的软、硬件工作原理，为其设计了基于串口的驱动程序；然后介绍了触摸屏的工作原理，重点介绍了触摸屏的校正算法。最后介绍了基于MiniGUI的缴费通系统软件的设计，给出了系统的联合调试结果。 本缴费系统使用ARM9内核的2440处理器作为核心处理器，其主要外设有网卡、磁卡读卡器和触摸屏，其中网卡用于系统和网络的连接，提供局域网、电话线、ADSL三种上网方式；读卡器用于读入用户银行卡信息；触摸屏用于人机交互，包括用户输入密码、缴费金额及向用户显示历史缴费信息等功能。软件部分底层采用嵌入式Linux操作系统，使用MiniGUI集成开发环境，通过触摸屏向用户提供友好的人机交互界面。 文章最后针对本课题的研究内容进行了总结，指出不足并对未来发展进行展望。
上传时间： 2013-05-21
上传用户：凤临西北
本文针对浮点DSP 芯片TMS320VC33 芯片的结构特点，介绍了该芯片最小系统硬件电路设计的方法，并结合实际应用情况，介绍了相关的时钟电路、复位电路、JTAG 仿真接口电路、外围存储器接口电
上传时间： 2013-06-11
上传用户：jcljkh
针对仪器仪表向高端产品的发展趋势，课题提出并设计实现了一种基于嵌入式μC/OS-Ⅱ操作系统和ARM7微处理器为核心的控制平台，使仪表的使用更加方便、智能。系统融合了嵌入式系统、USB通信、LAN通信、显示等多项快速发展的技术，通过USB模块和LAN网络的数据传输，实现了高端仪表与外部设备的通信，整个平台具有高速、实时传输数据等特性，能够广泛地应用于多种行业的现场测量中。 硬件方面，课题采用具有ARM7TDMI核的LPC2220微处理器作为系统的控制平台，并结合应用设计出了显示模块、USB通信模块、LAN通信模块。控制平台通过USB通信模块和LAN通信模块，建立与外部设备的数据处理通道，将与SPI接口连接的仪表数据进行传输处理。USB接口电路采用了Cypress公司的CY7C68001芯片，LAN通信模块则采用了CIRRUSLOGIC的以太网控制器CS8900实现底层驱动。 软件方面，首先将μC/OS-Ⅱ操作系统移植到ARM7上，并在嵌入式μC/OS-Ⅱ环境下编写了各硬件模块的驱动程序。在驱动程序的基础上设计了VFD显示程序、USB通信和网络通信等应用模块，验证了数据处理平台具有的各项功能。网络通信模块中，WEB SERVER在控制平台实现，在上位PC上输入服务器的固定IP地址，实现控制命令的发送、数据包的接收等功能。 经测试，系统运行正常，较好的实现了各项设计目标，从而证明了本文的方法是可行的。本系统为高端仪表的数据处理提供了一个有效的解决方案，具有良好的应用前景。
上传时间： 2013-06-06
上传用户：cooran
表面粗糙度是机械加工中描述工件表面微观形状重要的参数。在机械零件切削的过程中，刀具或砂轮遗留的刀痕，切屑分离时的塑性变形和机床振动等因素，会使零件的表面形成微小的蜂谷。这些微小峰谷的高低程度和间距状况就叫做表面粗糙度，也称为微观不平度。表面粗糙度的测量是几何测量中的一个重要部分，它对于现代制造业的发展起了重要的推动作用。世界各国竞相进行粗糙度测量仪的研制，随着科学技术的发展，各种各样的粗糙度测量系统也竞相问世。对于粗糙度的测量，随着技术的更新，国家标准也一直在变更。最新执行的国家标准(GB/T6062-2002)，规定了粗糙度测量的参数，以及制定了触针式测量粗糙度的仪器标准[1]。 随着新国家标准的执行，许多陈旧的粗糙度测量仪已经无法符合新标准的要求。而且生产工艺的提高使得原有方案的采集精度和采集速度，满足不了现代测量技术的需要。目前，各高校公差实验室及大多数企业的计量部门所使用的计量仪器(如光切显微镜、表面粗糙度检查仪等)只能测量单项参数，而能进行多参数测量的光电仪器价格较贵，一般实验室和计量室难以购置。因此如何利用现有的技术，结含现代测控技术的发展，职制出性能可靠的粗糙度测量仪，能有效地降低实验室测量仪器的成本，具有很好的实用价值和研究意义。 基于上述现状，本文在参考旧的触针式表面粗糙度测量仪技术方案的基础上，提出了一种基于ARM嵌入式系统的粗糙度测量仪的设计。这种测量仪采用了先进的传感器技术，保证了测量的范围和精度；采用了集成的信号调理电路，降低了信号在调制、检波、和放大的过程中的失真；采用了ARM处理器，快速的采集和控制测量仪系统；采用了强大的PC机人机交互功能，快速的计算粗糙度的相关参数和直观的显示粗糙度的特性曲线。 论文主要做了如下工作：首先，论文分析了触针式粗糙度测量仪的发展以及现状；然后，详细叙述了系统的硬件构成和设计，包括传感器的原理和结构分析、信号调理电路的设计、A/D转换电路的设计、微处理器系统电路以及与上位机接口电路的设计。同时，还对系统的数据采集进行了研究，开发了相应的固件程序及接口程序，完成数据采集软件的编写，并且对表面粗糙度参数的算法进行程序的实现。编写了控制应用程序，完成控制界面的设计。最终设计出一套多功能、多参数、高性能、高可靠、操作方便的表面粗糙度测量系统。
上传时间： 2013-04-24
上传用户：KIM66
这篇论文在系统分析国内外雷达伺服控制系统研究现状的基础上，选定以ARM为内核的基于ARM+FPGA的雷达伺服控制器为研究对象。 首先，根据雷达伺服控制系统功能要求与性能指标，进行系统的硬件设计：选择基于ARM920T的S3C2410和Altera公司的FPGA芯片EP1C12Q240作为主控芯片，ARM与FPGA的连接形式采用中断+存储器的形式；将ARM与FPGA上多余的引脚引出作为将来升级的需要；还画出ARM+FPGA的雷达伺服控制器的系统图并制作了PCB板。 其次，选用PID对伺服系统进行控制，模糊神经网络综合了模糊控制和神经网络的优点，并利用模糊神经网络算法对PID参数进行在线调整。用Matlab7.1进行仿真，其结果表明：该控制算法对系统具有良好的控制效果，性能较常规PID得到较大改善。 最后，根据FPGA在伺服系统主要任务，用VHDL语言和原理图在FPGA芯片中分别编制实现DAC0832接口控制功能、光电编码器与脉冲发生电路的程序代码；并在Quartus II6.0环境下通过仿真，且得到仿真的波形符合系统功能要求。采用C语言编写在ARM中实现模糊神经网络PID控制算法的代码，通过CodeWarrior for ARM的编译无误后，生成可执行文件.axf,，调用AXD进行在线仿真调试。仿真结果表明：模糊神经网络PID算法对伺服系统能够进行有效控制。 结果表明：ARM作为伺服控制器的内核，其性价比与集成度高：用FPGA芯片实现接口电路使伺服控制器的可靠性高、速度快、可配置及连接方式灵活。因此采用基于ARM+FPGA的雷达伺服控制器，提高了系统的开放性、实时性、可靠性，降低了系统功耗，具有重要的应用价值。
上传时间： 2013-06-30
上传用户：Ruzzcoy
为了解决当前PVC软标生产技术落后、效率低、质量不稳定、能耗高、工作环境差等问题，本文提出研制集注标、烘烤、冷却的数控PVC软标机方案。 数控PVC软标机控制系统采用“ARM9+RT-Linux”开发模式，将数控技术与嵌入式系统应用有机结合起来，一方面发挥ARM9微处理器高性能、低功耗的特点，使PVC软标机数控系统有较强的数据处理和运动控制能力；另一方面利用实时操作系统RT-Linux的开放性、强大的功能，简化了数控系统软件的开发，缩短了应用系统开发周期。 本文研究的主要内容是基于嵌入式的PVC软标机数控系统硬件设计和软件开发。首先详细介绍了系统各功能模块的硬件电路设计，包括嵌入式最小系统搭建、伺服驱动器接口电路设计、电磁阀接口电路设计、人机交互模块设计、通信模块设计、开关量模块设计等方面内容；然后，基于RT-Linux的嵌入式系统软件实现机理的理论指导下，提出了系统软件的架构，在此基础上详细阐述了软件实现过程：通过对PVC软标机数控系统功能需求及多任务间数据依赖关系的分析，同时结合RT-Linux平台上实时应用软件的结构特点，本文在逻辑架构上对控制系统的实时任务和非实时任务进行了划分，并设计了模块间数据缓冲机制；在时序架构上提出了系统的多任务运行时机分配以及各任务之间正确合理的时序关系，以保证实时任务的实时性和非实时任务能够得到适当运行；在应用软件架构上利用RT-Linux多线程编程技术实现了系统软件的基本功能。最后，针对本系统插补所需的精度和系统实时性要求，利用数据采用直线插补算法实现了系统的插补功能。 目前，PVC软标机数控系统的基本功能已经实现，系统能够在实验平台上稳定运行，基本达到预期目标。关键字：PVC软标；数控系统；插补；RT-Linux；ARM9
上传时间： 2013-04-24
上传用户：visit8888
随着半导体工艺的飞速发展和芯片设计水平的不断进步，ARM微处理器的性能得到大幅度地提高，同时其芯片的价格也在不断下降，嵌入式系统以其独有的优势，己经广泛地渗透到科学研究和日常生活的各个方面。 本文以ARM7 LPC2132处理器为核心，结合盖革一弥勒计数管对Time-To-Count辐射测量方法进行研究。ARM结构是基于精简指令集计算机(RISC)原理而设计的，其指令集和相关的译码机制比复杂指令集计算机要简单得多，使用一个小的、廉价的ARM微处理器就可实现很高的指令吞吐量和实时的中断响应。基于ARM7TDMI-S核的LPC2132微处理器，其工作频率可达到60MHz，这对于Time-To-Count技术是非常有利的，而且利用LPC2132芯片的定时/计数器引脚捕获功能，可以直接读取TC中的计数值，也就是说不再需要调用中断函数读取TC值，从而大大降低了计数前杂质时间。本文是在我师兄吕军的《Time-To-Count测量方法初步研究》基础上，使用了高速的ARM芯片，对基于MCS-51的Time-To-Count辐射测量系统进行了改进，进一步论证了采用高速ARM处理器芯片可以极大的提高G-M计数器的测量范围与测量精度。 首先，讨论了传统的盖革-弥勒计数管探测射线强度的方法，并指出传统的脉冲测量方法的不足。然后讨论了什么是Time-To-Count测量方法，对Time-To-Count测量方法的理论基础进行分析。指出Time-To-Count方法与传统的脉冲计数方法的区别，以及采用Time-To-Count方法进行辐射测量的可行性。 接着，详细论述基于ARM7 LPC2132处理器的Time-To-Count辐射测量仪的原理、功能、特点以及辐射测量仪的各部分接口电路设计及相关程序的编制。 最后得出结论，通过高速32位ARM处理器的使用，Time-To-Count辐射测量仪的精度和量程均得到很大的提高，对于Y射线总量测量，使用了ARM处理器的Time-To-Count辐射测量仪的量程约为20 u R/h到1R/h，数据线性程度也比以前的Time-To-CotJnt辐射测量仪要好。所以在使用Time-To-Count方法进行的辐射测量时，如何减少杂质时间以及如何提高计数前时间的测量精度，是决定Time-To-Count辐射测量仪性能的关键因素。实验用三只相同型号的J33G-M计数管分别作为探测元件，在100U R/h到lR/h的辐射场中进行试验.每个测量点测量5次取平均，得出随着照射量率的增大，辐射强度R的测量值偏小且与辐射真实值之间的误差也随之增大。如果将测量误差限定在10％的范围内，则此仪器的量程范围为20 u R/h至1R/h，量程跨度近六个数量级。而用J33型G-M计数管作常规的脉冲测量，量程范围约为50 u R/h到5000 u R/h，充分体现了运用Time-To-Count方法测量辐射强度的优越性，也从另一个角度反应了随着计数前时间的逐渐减小，杂质时间在其中的比重越来越大，对测量结果的影响也就越来越严重，尽可能的减小杂质时间在Time-To-Count方法辐射测量特别是测量高强度辐射中是关键的。笔者用示波器测出此辐射仪器的杂质时间约为6.5 u S，所以在计算定时器值的时候减去这个杂质时间，可以增加计数前时间的精确度。通过实验得出，在标定仪器的K值时，应该在照射量率较低的条件下行，而测得的计数前时间是否精确则需要在照射量率较高的条件下通过仪器标定来检验。这是因为在照射量率较低时，计数前时间较大，杂质时间对测量结果的影响不明显，数据线斜率较稳定，适宜于确定标定系数K值，而在照射量率较高时，计数前时间很小，杂质时间对测量结果的影响较大，可以明显的在数据线上反映出来，从而可以很好的反应出仪器的性能与量程。实验证明了Time-To-Count测量方法中最为关键的环节就是如何对计数前时间进行精确测量。经过对大量实验数据的分析，得到计数前时间中的杂质时间可分为硬件杂质时间和软件杂质时间，并以软件杂质时间为主，通过对程序进行合理优化，软件杂质时间可以通过程序的改进而减少，甚至可以用数学补偿的方法来抵消，从而可以得到比较精确的计数前时间，以此得到较精确的辐射强度值。对于本辐射仪，用户可以选择不同的工作模式来进行测量，当辐射场较弱时，通常采用规定次数测量的方式，在辐射场较强时，应该选用定时测量的方式。因为，当辐射场较弱时，如果用规定次数测量的方式，会浪费很多时间来采集足够的脉冲信号。当辐射场较强时，由于辐射粒子很多，产生脉冲的频率就很高，规定次数的测量会加大测量误差，当选用定时测量的方式时，由于时间的相对加长，所以记录的粒子数就相对的增加，从而提高仪器的测量精度。通过调研国内外先进核辐射测量仪器的发展现状，了解到了目前最新的核辐射总量测量技术一Time-To-Count理论及其应用情况。论证了该新技术的理论原理，根据此原理，结合高速处理器ARM7 LPC2132，对以G-计数管为探测元件的Time-To-Count辐射测量仪进行设计。论文以实验的方法论证了Time-To-Count原理测量核辐射方法的科学性，该辐射仪的量程和精度均优于以前以脉冲计数为基础理论的MCS-51核辐射测量仪。该辐射仪具有量程宽、精度高、易操作、用户界面友好等优点。用户可以定期的对仪器的标定，来减小由于电子元件的老化对低仪器性能参数造成的影响，通过Time-To-Count测量方法的使用，可以极大拓宽G-M计数管的量程。就仪器中使用的J33型G-M计数管而言，G-M计数管厂家参考线性测量范围约为50 u R/h到5000 u R/h，而用了Time-To-Count测量方法后，结合高速微处理器ARM7 LPC2132，此核辐射测量仪的量程为20 u R/h至1R/h。在允许的误差范围内，核辐射仪的量程比以前基于MCS-51的辐射仪提高了近200倍，而且精度也比传统的脉冲计数方法要高，测量结果的线性程度也比传统的方法要好。G-M计数管的使用寿命被大大延长。 综上所述，本文取得了如下成果：对国内外Time-To-Count方法的研究现状进行分析，指出了Time-To-Count测量方法的基本原理，并对Time-T0-Count方法理论进行了分析，推导出了计数前时间和两个相邻辐射粒子时间间隔之间的关系，从数学的角度论证了Time-To-Count方法的科学性。详细说明了基于ARM 7 LPC2132的Time-To-Count辐射测量仪的硬件设计、软件编程的过程，通过高速微处理芯片LPC2132的使用，成功完成了对基于MCS-51单片机的Time-To-Count测量仪的改进。改进后的辐射仪器具有量程宽、精度高、易操作、用户界面友好等特点。本论文根据实验结果总结出了Time-To-Count技术中的几点关键因素，如：处理器的频率、计数前时间、杂质时间、采样次数和测量时间等，重点分析了杂质时间的组成以及引入杂质时间的主要因素等，对国内核辐射测量仪的研究具有一定的指导意义。
标签： TimeToCount ARM 辐射测量仪
上传时间： 2013-06-24
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