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开发测试

  • 单片机应用系统设计与开发

    本章基本要求:通过对本章的学习主要了解一个单片机系统设计的全过程,包括:提出要求、方案确定、硬件设计、软件设计、系统可靠性设计及最后的调试通过、产品定型等。 7.1.1设计要求与设计步骤(1)设计要求单片机应用系统大多数用于工业环境、嵌入到其它设备或作为部件组装到某种产品中,所以单片机应用系统的设计应满足以下要求:●高可靠性●较强的环境适应能力●较好的实时性●易于操作和维护●具有一定的可扩充性●具有通信功能(2)设计步骤单片机不同应用系统的开发过程基本相似,其一般步骤可以分为需求分析,总体方案设计、硬件设计与调试、软件设计与调试、系统功能调试与性能测试、产品验收和维护、文件编制和技术归档等。①需求分析需求分析就是要明确所设计的单片机应用系统要“做什么”和“做的结果怎样”。需求分析阶段的结果是形成可操作的设计需求任务书。任务书应包含单片机应用系统所应具有的功能特性和性能指标等主要内容。如果是自主开发产品,还应附有市场调研和可行性论证等内容;如果是委托开发,则应该与委托方讨论拟制的需求任务书是否满足对方的需求。②总体方案设计总体方案设计就是要从宏观上解决“怎么做”的问题。其主要内容应包括:技术路线或设计途径、采用的关键技术、系统的体系结构、主要硬件的选型和加工技术、软件平台和开发语言、测试条件和测试方法、验收标准和条文等。如果是委托开发,设计需求任务书和总体方案设计的主要内容往往以技术文件的形式附于合同书之后。③硬件设计硬件设计的主要内容是基于总体方案设计,选择系统所需的各类元器件、设计系统的电子线路图和印刷电路板、安装元器件的调试硬件线路。硬件设计应确保功能设计和接口设计满足系统的需求,并且充分考虑和软件的协调工作关系,注重选用高集成度的器件和采用硬件软化、软件硬化等设计技术。④软件设计本阶段的主要任务是:基于软件工程的思想,拟制出本系统的软件设计方案,划分出主要的软件模块、根据需要绘制部分软件模块的流程图、调试程序和测试软件的基本功能。⑤系统功能调试与测试本阶段的重点是:基于系统的设计需求,进行系统功能调试和性能指标的测试,形成测试报告,核对用户需求或设计需求和系统现有功能、指标的一致性程度,提出修改意见,循环上述某些步骤,直至满足需求。⑥产品验收和维护单片机应用系统设或产品开发结束后,必须经过用户的验收。属于国家或部委的科研项目,还应通过有关部门的鉴定。产品投入市场或用户生产现场后,维护工作就开始了,这步工作一直要持续到该产品退出市场。⑦文档编制和技术归档为了维护单片机系统,或将目前的设计成果作为资源用于以后的设计,有必要编制相应的文档。提供给用户的安装手册、操作手册和维护手册等,是技术文档的重要组成部分之一。技术文档必须按国家标准对其进行标准化,经相关人员审核后存入技术档案室进行统一管理。

    标签: 单片机应用 系统设计

    上传时间: 2014-12-27

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  • 基于LabVIEW的血铅分析仪开发

    介绍应用虚拟仪器技术开发的血铅检测分析系统,该系统不仅造价低,且性能大大优于传统血铅分析仪。随着计算机技术的飞速发展,测试技术的精确度和灵活性都大为提高,并向着数字化和智能化发展。近年来,强大的面向对象的程序开发工具的出现,使编写大规模程序更加简洁和容易,也为虚拟仪器的出现提供了前提。虚拟仪器是当前测控领域的热点,已广泛应用于航天、通信、生物工程、电子、机械等领域。采用虚拟仪器技术构建的测试仪器开发效率高,可维护性强;测试精度、稳定性和可靠性都能够得到充分保证;具有很高的性价比,节省投资,便于设备更新和功能的转换与扩充。虚拟仪器用图形化编程软件LabVIEW进行开发。LabVIEW是一个通用的编程系统,它不但具有一般的数学运算、逻辑运算和输入输出功能,还带有专门的用于数据采集和仪器控制的库函数和开发工具,以及专业的数学分析程序包,可以满足复杂的工程计算和分析需要。在LabVIEW虚拟平台上进行仪器开发不但可行而且简单方便。本文将介绍在LabVIEW虚拟平台上开发的一套血铅分析仪。铅是人体惟一不需要的微量元素,它几乎对人体所有的器官都能构成损害。即使人体内有0.01μg的铅存在,也会对健康造成损害。而且,人们即便脱离了铅污染环境或经治疗使血铅水平明显下降,受损的器官和组织也不能修复。医生特别指出,并不是一定有什么临床症状才表明已有铅中毒发生。所以,铅对人体的危害十分严重并且不容易被察觉,检查人体铅的含量在临床上有着相当重要的意义。因此,血铅分析仪的开发有着深远的现实意义和工程意义。

    标签: LabVIEW 分析仪

    上传时间: 2013-10-26

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  • 基于单片机的AFM纳米机械性能测试系统

    摘要:为解决采用原子力显微镜(AFM)系统进行纳米机械性能测试中存在的不能够直接获得载荷?压深曲线以及不能够随意改变加载、保载、卸载时间等问题,对AFM系统进行了改造,开发了一套基于单片机的信号输入输出模块。将该模块与AFM控制系统相联,形成新的纳米机械性能测试系统。该系统信号输出精度为0.15mV,信号采集精度为0.3mV,工作台的移动灵敏度为1.53nm,可以动态改变垂直载荷,并实时获得载荷?压深曲线。通过单片机设置模拟信号的输出速率可以实现加载、保载和卸载速率的改变;结合二维微动精密工作台,可以实现较大范围内高精度的点阵压痕测试。通过在聚碳酸酯、聚二甲基硅氧烷等材料表面进行实验测试表明:该系统可以高速高精度地测量样品的纳米机械性能参数,包括对样品进行纳米压痕测试和对样品的纯弹性变形过程进行检测,如聚二甲基硅氧烷或者各种微梁等微小构件。关 键 词:原子力显微镜(AFM);单片机;纳米机械性能;载荷-压深曲线

    标签: AFM 单片机 纳米机械 性能测试

    上传时间: 2013-10-18

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  • 单片机读写U盘方案开发指南

    单片机读写U盘方案开发手册 目录 1.芯片及模块手册资料2.应用电路图及封装3.SPI例程及UART例程4.其他外围应用电路5.232、电平转换资料6.芯片测试文档7.U盘支持列表

    标签: 单片机 读写U盘 方案 开发指南

    上传时间: 2013-11-01

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  • MSP430系列单片机C语言程序设计与开发

    MSP430系列单片机C语言程序设计与开发MSP430系列是一个具有明显技术特色的单片机品种。关于它的硬件特性及汇编语言程序设计已在《MSP430系列超低功耗16位单片机的原理与应用》及《MSP430系列 FLASH型超低功耗16位单片机》等书中作了全面介绍。《MSP430系列单片机C语言程序设计与开发》介绍IAR公司为MSP430系列单片机配备的C程序设计语言C430。书中叙述了C语言的基本概念、C430的扩展特性及C库函数;对C430的集成开发环境的使用及出错信息作了详尽的说明;并以MSP430F149为例,对各种应用问题及外围模块操作提供了典型的C程序例程,供读者在今后的C430程序设计中参考。   《MSP430系列单片机C语言程序设计与开发》可以作为高等院校计算机、自动化及电子技术类专业的教学参考书,也可作为工程技术人员设计开发时的技术资料。MSP430系列超低功耗16位单片机的原理与应用目录MSP430系列单片机C语言程序设计与开发 目录  第1章 C语言基本知识1.1 标识符与关键字11.1.1 标识符11.1.2 关键字11.2 数据基本类型21.2.1 整型数据21.2.2 实型数据31.2.3 字符型数据41.2.4 各种数据转换关系61.3 C语言的运算符71.3.1 算术运算符71.3.2 关系运算符和逻辑运算符71.3.3 赋值运算符81.3.4 逗号运算符81.3.5 ? 与 :运算符81.3.6 强制转换运算符91.3.7 各种运算符优先级列表91.4 程序设计的三种基本结构101.4.1 语句的概念101.4.2 顺序结构111.4.3 选择结构121.4.4 循环结构141.5 函数181.5.1 函数定义181.5.2 局部变量与全局变量191.5.3 形式参数与实际参数201.5.4 函数调用方式201.5.5 函数嵌套调用211.5.6 变量的存储类别221.5.7 内部函数和外部函数231.6 数组231.6.1 一维数组241.6.2 多维数组241.6.3 字符数组261.7 指针271.7.1 指针与地址的概念271.7.2 指针变量的定义281.7.3 指针变量的引用281.7.4 数组的指针281.7.5 函数的指针301.7.6 指针数组311.8 结构和联合321.8.1 结构定义321.8.2 结构类型变量的定义331.8.3 结构类型变量的初始化341.8.4 结构类型变量的引用341.8.5 联合341.9 枚举361.9.1 枚举的定义361.9.2 枚举元素的值371.9. 3 枚举变量的使用371.10 类型定义381.10.1 类型定义的形式381.10.2 类型定义的使用381.11 位运算391.11.1 位运算符391.11.2 位域401.12 预处理功能411.12.1 简单宏定义和带参数宏定义411.12.2 文件包含431.12.3 条件编译命令44第2章 C430--MSP430系列的C语言2.1 MSP430系列的C语言452.1.1 C430概述452.1.2 C430程序设计工作流程462.1.3 开始462.1.4 C430程序生成472.2 C430的数据表达482.2.1 数据类型482.2.2 编码效率502.3 C430的配置512.3.1 引言512.3. 2 存储器分配522.3.3 堆栈体积522.3.4 输入输出522.3.5 寄存器的访问542.3.6 堆体积542.3.7 初始化54第3章 C430的开发调试环境3.1 引言563.1.1 Workbench特性563.1.2 Workbench的内嵌编辑器特性563.1.3 C编译器特性573.1. 4 汇编器特性573.1.5 连接器特性583.1.6 库管理器特性583.1.7 C?SPY调试器特性593.2 Workbench概述593.2.1 项目管理模式593.2.2 选项设置603.2.3 建立项目603.2.4 测试代码613.2.5 样本应用程序613.3 Workbench的操作623.3.1 开始633.3.2 编译项目683.3.3 连接项目693.3.4 调试项目713.3.5 使用Make命令733.4 Workbench的功能汇总753.4.1 Workbench的窗口753.4.2 Workbench的菜单功能813.5 Workbench的内嵌编辑器993.5.1 内嵌编辑器操作993.5.2 编辑键说明993.6 C?SPY概述1013.6.1 C?SPY的C语言级和汇编语言级调试1013.6.2 程序的执行1023.7 C?SPY的操作1033.7.1 程序生成1033.7.2 编译与连接1033.7.3 C?SPY运行1033.7.4 C语言级调试1043.7.5 汇编级调试1113.8 C?SPY的功能汇总1133.8.1 C?SPY的窗口1133.8.2 C?SPY的菜单命令功能1203.9 C?SPY的表达式与宏1323.9.1 汇编语言表达式1323.9.2 C语言表达式1333.9.3 C?SPY宏1353.9.4 C?SPY的设置宏1373.9.5 C?SPY的系统宏137 第4章 C430程序设计实例4.1 程序设计与调试环境1434.1.1 程序设计调试集成环境1434.1.2 设备连接1444.1.3 ProF149实验系统1444.2 数值计算1454.2.1 C语言表达式1454.2.2 利用MPY实现运算1464.3 循环结构1474.4 选择结构1484.5 SFR访问1494.6 RAM访问1504.7 FLASH访问1514.8 WDT操作1534.8. 1 WDT使程序自动复位1534.8.2 程序对WATCHDOG计数溢出的控制1544.8.3 WDT的定时器功能1554.9 Timer操作1554.9.1 用Timer产生时钟信号1554.9.2 用Timer检测脉冲宽度1564.10 UART操作1574.10.1 点对点通信1574.10.2 点对多点通信1604.11 SPI操作1634.12 比较器操作1654.13 ADC12操作1674.13.1 单通道单次转换1674.13.2 序列通道多次转换1684.14 时钟模块操作1704.15 中断服务程序1714.16 省电工作模式1754.17 调用汇编语言子程序1764.17.1 程序举例1764.17.2 生成C程序调用的汇编子程序177第5章 C430的扩展特性5.1 C430的语言扩展概述1785.1.1 扩展关键字1785.1.2 #pragma编译命令1785.1.3 预定义符号1795.1.4 本征函数1795.1.5 其他扩展特性1795.2 C430的关键字扩展1795.2.1 interrupt1805.2.2 monitor1805.2.3 no_init1815.2.4 sfrb1815.2.5 sfrw1825.3 C430的 #pragma编译命令1825.3.1 bitfields=default1825.3.2 bitfields=reversed1825.3.3 codeseg1835.3.4 function=default1835.3.5 function=interrupt1845.3.6 function=monitor1845.3.7 language=default1845.3.8 language=extended1845.3.9 memory=constseg1855.3.10 memory=dataseg1855.3.11 memory=default1855.3.12 memory=no_init1865.3.13 warnings=default1865.3.14 warnings=off1865.3.15 warnings=on1865.4 C430的预定义符号1865.4.1 DATE1875.4.2 FILE1875.4.3 IAR_SYSTEMS_ICC1875.4.4 LINE1875.4.5 STDC1875.4.6 TID1875.4.7 TIME1885.4.8 VER1885.5 C430的本征函数1885.5.1 _args$1885.5.2 _argt$1895.5.3 _BIC_SR1895.5.4 _BIS_SR1905.5.5 _DINT1905.5.6 _EINT1905.5.7 _NOP1905.5.8 _OPC1905.6 C430的汇编语言接口1915.6.1 创建汇编子程序框架1915.6.2 调用规则1915.6.3 C程序调用汇编子程序1935.7 C430的段定义1935.7.1 存储器分布与段定义1945.7.2 CCSTR段1945.7.3 CDATA0段1945.7.4 CODE段1955.7.5 CONST1955.7.6 CSTACK1955.7.7 CSTR1955.7.8 ECSTR1955.7.9 IDATA01965.7.10 INTVEC1965.7.11 NO_INIT1965.7.12 UDATA0196第6章 C430的库函数6.1 引言1976.1.1 库模块文件1976.1.2 头文件1976.1.3 库定义汇总1976.2C 库函数参考2046.2.1 C库函数的说明格式2046.2.2 C库函数说明204第7章 C430编译器的诊断消息7.1 编译诊断消息的类型2307.2 编译出错消息2317.3 编译警告消息243附录 AMSP430系列FLASH型芯片资料248附录 BProF149实验系统251附录 CMSP430x14x.H文件253附录 DIAR MSP430 C语言产品介绍275

    标签: MSP 430 C语言 单片机

    上传时间: 2014-05-05

    上传用户:253189838

  • LTE系统网络层软件的集成测试平台的研究

    长期演进技术(LTE)是新一代无线移动通信系统核心技术,如何不断地完善和增强LTE系统的功能成为当前的研究热点之一。相对于LTE系统的开发,测试更是必不可少的阶段。在完成LTE系统网络层层三的协议开发后,利用有限的设备资源及仿真工具,搭建一个小规模系统集成测试平台以检验代码中的漏洞和缺陷,从而对于提高LTE的系统性能和完善LTE系统的功能具有重要的意义。

    标签: LTE 测试平台 网络层

    上传时间: 2013-11-02

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  • 基于SCADE的机载余度管理软件开发

    针对目前余度管理软件开发过程中普遍采用手工编码,可靠性和效率较低,验证工作量大,软件开发周期较长,成本高等问题,本文采用基于SCADE的图形化建模开发方法和自动代码生成技术生成高可靠嵌入式实时代码,免去代码的测试单元,缩短开发周期,安全性高,在工程应用中大大节省了开发成本,并很好的保证了余度管理系统的稳定性和安全性。

    标签: SCADE 机载 管理软件

    上传时间: 2013-11-04

    上传用户:tuilp1a

  • LTE基站误码率测试方法和测试平台设计

    LTE基站误码率测试是基站射频测试中最为关键的测试项目之一,提出一种快速、高效的测试方法和测试架构。该方案采用基站射频板作为数据采集卡、完成上行链路的解调和模拟信号转换成I/Q数据功能,利用ADS、MATLAB搭建上行信道的同步、解码功能。测试表明该方案的测试精度达到 0.2dB,完全满足研发和生产中测试上行相关射频指标的功能需求, 同时本设计还具有开发周期短、投资成本低,操作简便、很强的跨系统移植能力。

    标签: LTE 基站 误码率 测试方法

    上传时间: 2013-11-17

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  • 飞机刹车控制系统仿真测试平台设计

    针对飞机在地面的快速反应,安全升空和着陆能力,以及飞机刹车系统的性能等问题,将半实物仿真测试技术应用到飞机刹车系统中。建立实物与模型之间的关系,以LabWindows/CVI 2009为仿真开发平台,提出以实物代替模型引入仿真回路,与所建模型形成完整的飞机刹车半实物仿真系统的方法。结果表明:该测试系统与实物仿真相比投资少,效率高,同时又比传统数字仿真更接近实际,是理想的测试手段,为飞机刹车系统的实验研究提供了真实有效的实验平台。

    标签: 飞机 刹车 仿真测试 控制系统

    上传时间: 2013-11-21

    上传用户:lht618

  • 基于1553B总线的BU-61580芯片测试系统的设计

    BU-61580芯片测试系统用于检测DDC公司的BU-61580系列芯片的总线协议功能和电气特性,筛选失效芯片,并具备芯片接口时序调整功能,可检验芯片在不同的接口环境和工作方式下的特殊表现。以Windows XP为开发平台,标准VC++为开发工具,针对该芯片设计一套测试系统。PCI总线接口的专用芯片测试卡能够方便的插入待测试的芯片,与之相应的测试系统能够设置芯片的访问时序,测试芯片工作于不同模式下的状态。实际应用表明,该测试系统具有测试界面灵活、简单、准确的特点,满足了用户的要求。

    标签: 1553B 61580 BU 总线

    上传时间: 2015-01-03

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