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现代IC设计中,随着设计规模的扩大和复杂度的增长,验证成为最严峻的挑战之一。在现代ASIC设计中,很难用单一的验证方法来对复杂芯片进行有效的验证,为了将设计错误减少到可接受的最小量,需要将一系列的验证...

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