📚 并行激励技术资料

📦 资源总数：1582

💻 源代码：1515

🔌 电路图：2

并行激励技术，作为提升系统处理速度与效率的关键手段，在高性能计算、嵌入式系统及自动化控制等领域展现出卓越性能。通过同时激活多个任务或组件，显著减少延迟，提高数据吞吐量。掌握并行激励原理不仅能够帮助工程师优化现有设计，还能激发创新思维，开发出更高效的产品解决方案。本站汇集了1582份精选资源，涵盖理论研究到实际案例分析，是您深入学习并行激励技术的理想平台。

🔥 并行激励热门资料

查看全部1582个资源 »

一种高增益并行激励全向天线设计

针对全向天线高性能的要求，提出了一种并行馈电的天线阵列方案并完成设计。天线设计采用了三扇区合成全向覆盖的方案。通过改变寄生单元的负载，调整扇区天线波束宽度，使之满足扇区天线的-6dB波束为120°的要求，有效的减小了天线在水平面的波动性。实际测试表明该天线具有高增益，良好的全向性，达到了设计...

📅 2013-10-20 👤 brilliantchen

增益全向天线并行激励

基于FPGA的ADC并行测试方法研究.rar

高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA...

📅 2013-07-11 👤 tdyoung

FPGA ADC 并行测试

基于FPGA的ADC并行测试方法研究

高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实...

📅 2013-06-07 👤 gps6888

FPGA ADC 并行测试方法研究