并发测试
并发测试技术资料下载专区，收录500份相关技术文档、开发源码、电路图纸等优质工程师资源，全部免费下载。
资源总数
500
并发测试 全部资料 500 份
开发环境：ADS。测试IO口
开发环境：ADS。测试IO口，根据原理图可知，DS2-DS5是分别由IO口PB19-PB22控制的4个LED灯，通过对LED灯的操作，来测试IO口性能。
2014-01-21
75
计量测试技术的发展
本文从技术角度出发,围绕发展动力、检测手段和发展趋势三方面阐述了关于计量测试技术的发展问题。关键词:计量测试技术;发展;现代控制技术;传感器;网络化测量和控制
2023-11-28
1
Altera DE2 开发板测试说明
1 安装 Quartus II 5.1 Web Edition Full；2 将 DE2 System 光盘中的全部内容复制到PC 机上，其中DE2_control_panel文件夹内
2024-03-06
4
SOC_IP测试技术发展趋势
2005年全国单片机与嵌入式系统学术交流会论文,SOC由许多功能不同的IP整合而成，来源不同的各种IP模块的多层次复用是 SOC的基础。IP模块的提供者无法对模块进行物理测试，某些IP因无外接脚而无法测试；如果设计工程师采用传统的测试方法来...
2024-09-21
2