本资料是关于单片机电路设计的一些经验，希望对大家有所帮助。。。 前言 MCU发展趋势 未来以及相当长的一段时间内，单片机应用技术的发展趋势为： 1、全盘CMOS化 CMOS 电路具有众多的优点，如极宽的工作电压范围、极佳的本质低功耗及功耗管理特征，形成了嵌入式系统独特的低功耗及功耗管理应用技术。 2、最大化的SoC设计 目前单片机已逐渐向片上系统发展，原有的单片机逐渐发展成通用型SoC 单片机(如C8051F 系列)或SoC 的标准IP 内核(如DW8051_core)，以及各种专用的SoC 单片机。 3、以串行方式为主的外围扩展 目前单片机外围器件普遍提供了串行扩展方式。串行扩展具有简单、灵活、电路系统简单、占用I/O资源少等优点，是一种流行的扩展方式。 4、8位机仍有巨大发展空间 电路常识性概念(1)-输入、输出阻抗 1、输入阻抗 输入阻抗是指一个电路输入端的等效阻抗。在输入端上加上一个电压源U，测量输入端的电流I，则输入阻抗Rin=U/I。你可以把输入端想象成一个电阻的两端，这个电阻的阻值，就是输入阻抗。 输入阻抗跟一个普通的电抗元件没什么两样，它反映了对电流阻碍作用的大小。 对于电压驱动的电路，输入阻抗越大，则对电压源的负载就越轻，因而就越容易驱动，也不会对信号源有影响;而对于电流驱动型的电路，输入阻抗越小，则对电流源的负载就越轻。因此，我们可以这样认为：如果是用电压源来驱动的，则输入阻抗越大越好;如果是用电流源来驱动的，则阻抗越小越好(注：只适合于低频电路，在高频电路中，还要考虑阻抗匹配问题。另外如果要获取最大输出功率时，也要考虑阻抗匹配问题。)
上传时间： 2013-11-08
上传用户：元宵汉堡包
PCB板基础知识、布局原则、布线技巧、设计规则
上传时间： 2013-12-14
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STM8使用小经验
上传时间： 2014-12-26
上传用户：zaizaibang
摘要：单片机越来越多的受到电子产品研发人员和我国高等技术类学校的应用与重视。本文在多年实际经验的基础上，从单片机结构、逻辑思维、和微观理念方面着手，详细介绍了如何学好单片机这门应用技术的几点经验之谈。关键词：单片机学习；经验介绍
上传时间： 2013-11-17
上传用户：yeluorag
AVR应用经验解析 AVR 具有上手入门快，开发方便简单的特点，但要充分体会和发挥AVR 的优点，还需要应用工程师本身的硬软件设计开发能力的不断学习、实践提高。“外行看热闹，内行看门道”，对于有一定基础的嵌入式和单片机系统设计开发的工程师，不妨先简单尝试一下AVR。
上传时间： 2013-11-16
上传用户：lixqiang
P C B 可测性设计布线规则之建议― ― 从源头改善可测率PCB 设计除需考虑功能性与安全性等要求外，亦需考虑可生产与可测试。这里提供可测性设计建议供设计布线工程师参考。1. 每一个铜箔电路支点，至少需要一个可测试点。如无对应的测试点，将可导致与之相关的开短路不可检出，并且与之相连的零件会因无测试点而不可测。2. 双面治具会增加制作成本，且上针板的测试针定位准确度差。所以Layout 时应通过Via Hole 尽可能将测试点放置于同一面。这样就只要做单面治具即可。3. 测试选点优先级：A.测垫(Test Pad) B.通孔(Through Hole) C.零件脚(Component Lead) D.贯穿孔(Via Hole)(未Mask)。而对于零件脚，应以AI 零件脚及其它较细较短脚为优先，较粗或较长的引脚接触性误判多。4. PCB 厚度至少要62mil(1.35mm)，厚度少于此值之PCB 容易板弯变形，影响测点精准度，制作治具需特殊处理。5. 避免将测点置于SMT 之PAD 上，因SMT 零件会偏移，故不可靠，且易伤及零件。6. 避免使用过长零件脚(>170mil(4.3mm))或过大的孔(直径>1.5mm)为测点。7. 对于电池(Battery)最好预留Jumper，在ICT 测试时能有效隔离电池的影响。8. 定位孔要求：(a) 定位孔(Tooling Hole)直径最好为125mil(3.175mm)及其以上。(b) 每一片PCB 须有2 个定位孔和一个防呆孔(也可说成定位孔,用以预防将PCB反放而导致机器压破板)，且孔内不能沾锡。(c) 选择以对角线，距离最远之2 孔为定位孔。(d) 各定位孔(含防呆孔)不应设计成中心对称,即PCB 旋转180 度角后仍能放入PCB,这样,作业员易于反放而致机器压破板)9. 测试点要求：(e) 两测点或测点与预钻孔之中心距不得小于50mil(1.27mm)，否则有一测点无法植针。以大于100mil(2.54mm)为佳，其次是75mil(1.905mm)。(f) 测点应离其附近零件(位于同一面者)至少100mil，如为高于3mm 零件，则应至少间距120mil，方便治具制作。(g) 测点应平均分布于PCB 表面，避免局部密度过高，影响治具测试时测试针压力平衡。(h) 测点直径最好能不小于35mil(0.9mm)，如在上针板，则最好不小于40mil(1.00mm)，圆形、正方形均可。小于0.030”(30mil)之测点需额外加工，以导正目标。(i) 测点的Pad 及Via 不应有防焊漆(Solder Mask)。(j) 测点应离板边或折边至少100mil。(k) 锡点被实践证实是最好的测试探针接触点。因为锡的氧化物较轻且容易刺穿。以锡点作测试点，因接触不良导致误判的机会极少且可延长探针使用寿命。锡点尤其以PCB 光板制作时的喷锡点最佳。PCB 裸铜测点，高温后已氧化，且其硬度高，所以探针接触电阻变化而致测试误判率很高。如果裸铜测点在SMT 时加上锡膏再经回流焊固化为锡点，虽可大幅改善，但因助焊剂或吃锡不完全的缘故，仍会出现较多的接触误判。
上传时间： 2014-01-14
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针对多层线路板中射频电路板的布局和布线，根据本人在射频电路PCB设计中的经验积累，总结了一些布局布线的设计技巧。并就这些技巧向行业里的同行和前辈咨询，同时查阅相关资料，得到认可，是该行业里的普遍做法。多次在射频电路的PCB设计中采用这些技巧，在后期PCB的硬件调试中得到证实，对减少射频电路中的干扰有很不错的效果，是较优的方案。
上传时间： 2013-10-21
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FPGA CPLD已成为业界焦点，这篇经验总结出自高人之手
上传时间： 2013-11-24
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1 无线射频，手机电路，电视家电，信号处理，电源电路等电路图应有尽有。 2 PCB使用教程，PCB使用技巧，PCB布线规则，PCB layout经验资料丰富精彩。 3 各类电子课件，电子教材，测量仪表，嵌入式技术，制造技术收藏资料。 4 IC中文资料，IC datasheet,规则标准， 网上查不到，这里找的到。
上传时间： 2013-11-11
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J-Link V8个人使用经验写成的用户手册
上传时间： 2013-10-07
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