局部放电
共 30 篇文章
局部放电 相关的电子技术资料，包括技术文档、应用笔记、电路设计、代码示例等，共 30 篇文章，持续更新中。
什么是超电解电容器
什么是超级电容器? <BR><BR>◆ 超级电容器（supercapacitor,ultracapacitor），又叫双电层电容器(Electrical Doule-Layer Capacitor)、黄金电容、法拉电容，通过极化电解质来储能。它是一种电化学元件，但在其储能的过程并不发生化学反应，这种储能过程是可逆的，也正因为此超级电容器可以反复充放电数十万次。 <BR><BR>◆ 超级电容器可以被
基于改进粒子群算法的舰船电力系统网络重构
<span id="LbZY">舰船电力系统网络重构可以看作为一个多目标、多约束、多时段、离散化的非线性规划最优问题。根据舰船电力系统特点，提出了一种改进的粒子群优化算法。在传统粒子群算法的基础上，运用混沌优化理论进行初始化粒子的初始种群，提升初始解质量；同时，引进遗传操作以改进粒子群算法易陷入局部极值的缺点。通过对典型的模型仿真表明，该算法具有更好的寻优性能，并且有效地提高了故障恢复的速度与精度
基于巴氏距离和LPP相结合的人脸识别
<span id="LbZY">局部保持映射（Locality Preserving Projection，LPP）算法是一种有效的特征提取方法。提出了利用巴氏距离和LPP相合算法对特征进行提取。当特征维数过高时，首先对样本用LPP进行特征提取和降维处理，然后采用巴氏距离特征的迭代算法，得到最小错误率上界。在ORL上实验，实验结果表明了提出算法在人脸识别中的有效性。</span>
第4章 集成运算放大电路
§4.1 概述 §4.2 集成运放中的电流源电路 §4.3 集成运放电路简介 §4.4 集成运放的性能指标及低频等效电路 §4.5 集成运放的种类及选择 §4.6 集成运放的使用
ESD保护电路的设计
ESD 静电放电给你的电子产品带来致命的危害不仅降低了产品的可靠性增加了维修成本而且不符合欧洲共同体规定的工业标准EN61000-4-2 就会影响产品在欧洲的销售所以电子设备制造商通常会在电路设计的初期就考虑ESD 保护电路本文将讨论ESD保护电路的几种方法.<br />
<img alt="" src="http://dl.eeworm.com/ele/img/177094-1202151002
低功耗高速跟随器的设计
提出了一种应用于CSTN-LCD系统中低功耗、高转换速率的跟随器的实现方案。基于GSMC±9V的0.18 μm CMOS高压工艺SPICE模型的仿真结果表明，在典型的转角下，打开2个辅助模块时，静态功耗约为35 μA；关掉辅助模块时，主放大器的静态功耗为24 μA。有外接1 μF的大电容时，屏幕上的充放电时间为10 μs；没有外接1μF的大电容时，屏幕上的充放电时间为13μs。验证表明，该跟随器能
计算二阶有源滤波、一阶有源滤波、阻容充放电
计算二阶有源滤波、一阶有源滤波、阻容充放电。
555电路频率漂移案例
555振荡电路的原理主要是通过对电容C（如下图）的充放电使其在1/3Vcc与2/3Vcc之间振荡从而引起内部触发器输出的变化产生输出频率
5000个集成功放电路速查及其代换手册
超全面的功放材料，是否对大家有用，特此奉献。
基于遗传变异蚁群算法的机器人路径规划的改进
<span style="color: rgb(0, 0, 0); font-family: 'Trebuchet MS', Arial; font-size: 11.818181991577148px; line-height: 21px; ">针对基本蚁群算法在机器人路径规划问题中容易陷入局部最优的问题，提出了一种改进的蚁群算法，利用遗传算法加入了变异因子使最优路径产生变异，从而降低了蚁群算法
大学物理实验RC电路时间常数的Multisim仿真测试
<span style="color: rgb(0, 0, 0); font-family: 'Trebuchet MS', Arial; line-height: 21px; ">基于探索大学物理电学实验仿真技术的目的，采用Multisim10仿真软件对RC电路时间常数参数进行了仿真实验测试。从RC电路电容充、放电时电容电压uC的表达式出发，分析了uC与时间常数之间的关系，给出了几种Multis
Construction Strategy of ESD P
Construction Strategy of ESD Protection Circuit<BR>Abstract： The principles used to construct ESD protection on circuits and the basic concept<BR>ions of ESD protection design are presented.<BR>Key wo
常用运放电路集锦
常用运放电路集锦
ESD电热模拟分析
静电放电（ＥＳＤ）是造成大多数电子元器件或电路系统破坏的主要因素。因此，电子产品中必须加上ＥＳＤ保护，提供ＥＳＤ电流泄放路径。电路模拟可应用于设计和优化新型ＥＳＤ保护电路，使ＥＳＤ保护器件的设计不再停留于旧的设计模式。文中讨论了器件由ＥＳＤ引起的热效应的失效机理及研究热效应所使用的模型。介绍用于ＥＳＤ模拟的软件，并对一些相关模拟结果进行了分析比较。<br />
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运算放大器中的虚断虚短应用
<P> 虚短和虚断的概念</P>
<P> 由于运放的电压放大倍数很大，一般通用型运算放大器的开环电压放大倍数都在80 dB以上。而运放的输出电压是有限的，一般在 10 V～14 V。因此运放的差模输入电压不足1 mV，两输入端近似等电位，相当于 “短路”。开环电压放大倍数越大，两输入端的电位越接近相等。</P>
<P> “虚短”是指在分析运算放大器处于线性状态时，可把两输入端视为等电位，这一
运放电路分析
运放
经典运放电路分析(经典)_免费
经典运放电路分析(经典)_免费
功放电路测试
功放电路测试 个人PPT.
基于粒子群模糊C均值聚类的快速图像分割
<span style="color: rgb(0, 0, 0); font-family: 'Trebuchet MS', Arial; font-size: 11.818181991577148px; line-height: 21px; ">模糊C-均值聚类算法是一种无监督图像分割技术，但存在着初始隶属度矩阵随机选取的影响，可能收敛到局部最优解的缺点。提出了一种粒子群优化与模糊C-均值聚类相
一阶RC电路的暂态过程
<P> 一、实验目的</P>
<P> 1.观察RC电路充放电过程，掌握时间常数的测量方法。</P>
<P> 2.研究RC积分电路和微分电路的特点。</P>
<P> 二、实验任务</P>
<P> 1.观察记录图示电路的放电过程。求出时间常数τ。</P>
<P> 2.设计时间常数τ为1ms的RC积分电路和微分电路，用示波器观察在脉冲信号源周期不同(与时间常数相比，即输入脉冲宽度T<&