大容量Flash存储器W25X16,W25X32,W25X64读写擦除程序
大容量Flash存储器W25X16,W25X32,W25X64读写擦除程序,在SST单片机上测试通过,使用了SST单片机的硬件SPI功能;也可以使用虚拟SPI的方法,在SST和STC单片机上测试通过。
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用于评估大容量STM32F103系列的STM3210E-EVAL评估板 (STM3210E-EVAL evaluation board)
资料->【C】嵌入系统->【C0】嵌入式综合->【2】单片机编程->【参考程序】->单片机源程序超级精华包->用单片机制作电池容量测试源程序.rar