导弹遥测
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半导体C-V测量基础
半导体C-V测量基础是一份系统讲解电容-电压测量原理与应用的技术文档，涵盖半导体器件特性分析、测量方法及数据解读，适用于微电子与半导体领域的研究人员和工程师。
2026-03-12
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NI半导体测试系统STS
使用半导体测试系统降低测试成本 半导体测试系统(STS)系列产品是一套利用NI测试技术的产品级测试系统，适用于半导体生产测试环境。STS在完全封闭的测试头里面整合了NI PXI平台、TestStand测试管理软件以及LabVIEW图形化编...
2022-09-20
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NI半导体测试系统STS_Flyer
半导体测试系统（STS）系列产品是一套利用NI测试技术的产品级测试系统，适用于半导体生产测试环境。STS在完全封闭的测试头里面整合了NI PXI平台…
2022-09-17
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