半导体存储器及其测试 376页 6.0M.pdf
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存储器测试技术资料
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专业书籍 《超大规模集成电路测试-数字 存储器和混合信号系统》[蒋安平][电子版][书签版][国外电
专业书籍 《超大规模集成电路测试-数字、存储器和混合信号系统》[蒋安平][电子版][书签版][国外电子与通信教材系列][电子工业出版社]...
数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计（影印版）
·书中包括的索引使你能够根据自己的需要，直接阅读你所关注的内容。主要内容包括：设计核心，关注嵌入核心和嵌入存储器；系统集成和超大规模集成电路的设计问题；AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计；内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST；虚拟测试套接字和隔离测试 ·重用设计，包括重用...
基于AVR单片机和CPLD的姿态测试系统设计
摘要：本系统采用cPLD和AvR单片机作为逻辑控制核心，设计了姿态存储测试系统，以实现姿态信息的采集、编帧和存储。详细介绍了姿态测试系统的工作原理和硬件设计。利用AVR单片机，控制数据的写、读、擦除操作，利用cPLD的逻辑控制功能完善了存储测试系统的各个工作状态，提高了存储测试系统工作的可靠性。...
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