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如何测试

  • 围绕着如何提高石英晶体振荡器的频率稳定度

    围绕着如何提高石英晶体振荡器的频率稳定度,本文集中探讨了以下几个方面的工作:分析了石英谐振器的特性及其对晶体振荡器性能的影响,从而为高稳定度石英晶体振荡器中对石英晶体的选择提供了依据。分析了振荡电路基本原理,从而设计出由2N3904构成的石英晶体振荡电路,并对电路中输出电路部分及稳压部分设计中的问题进行讨论。最后,论述了恒温晶体振荡器的主要制作过程和技术指标,并对试制石英晶体振荡器样品技术性能进行了测试和分析。

    标签: 如何提高 石英晶体振荡器 频率

    上传时间: 2017-08-12

    上传用户:lwwhust

  • 说明: 1.本文档探讨基于Asterisk如何实现VoIP的一些基本功能

    说明: 1.本文档探讨基于Asterisk如何实现VoIP的一些基本功能,包括 基本呼叫功能的方案选取、主叫号码透传、如何编写Asterisk AGI程序、 Radius认 证计费模块等。 2.本文档VoIP软终端使用X-Lite,其它终端均可以接入测试。

    标签: Asterisk VoIP 文档

    上传时间: 2014-01-19

    上传用户:13517191407

  • 如何使用STM32NUCLEO板来测试串口Bootloader

    问题:有客户想用我们的STM32 NUCLEO(如STM32F072NUCLEO) 开发板来测试串口Bootloader。

    标签: stm32 串口

    上传时间: 2022-02-22

    上传用户:jimmy950583

  • 高速ADC、DAC测试原理及测试方法

    随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高,以及对于系统灵敏度等要求的不断提高,对于高速、高精度的ADC、DAC的指标都提出了很高的要求。比如在移动通信、图像采集等应用领域中,一方面要求ADC有比较高的采样率以采集高带宽的输入信号,另一方面又要有比较高的位数以分辨细微的变化。因此,保证ADC/DAC在高速采样情况下的精度是一个很关键的问题。ADC/DAC芯片的性能测试是由芯片生产厂家完成的,需要借助昂贵的半导体测试仪器,但是对于板级和系统级的设计人员来说,更重要的是如何验证芯片在板级或系统级应用上的真正性能指标。ADC的主要参数ADC的主要指标分为静态指标和动态指标2大类。静态指标主要有:Differ ential Non-Li nearity(DNL)ntegral Non-Li nearity(INL)Of fset Error ull Scale Gain Error动态指标主要有:

    标签: ADC DAC

    上传时间: 2022-06-19

    上传用户:lostxc

  • 工程测试技术基础演示教程 PPT版

    工程测试技术基础演示教程 PPT版

    标签: 工程 测试 技术基础

    上传时间: 2013-05-19

    上传用户:eeworm

  • Bluetooth RF测试-正确的无线电设计测试

    Bluetooth RF测试-正确的无线电设计测试

    标签: Bluetooth RF测试 无线

    上传时间: 2013-04-15

    上传用户:eeworm

  • 如何使用LabVIEW开发各种数据记录仪

    如何使用LabVIEW开发各种数据记录仪

    标签: LabVIEW 如何使用 数据记录仪

    上传时间: 2013-05-28

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  • 如何保证用电安全

    如何保证用电安全

    标签:

    上传时间: 2013-05-30

    上传用户:eeworm

  • 如何入侵一台Internet上的主機

    如何入侵一台Internet上的主機

    标签: Internet

    上传时间: 2013-05-22

    上传用户:eeworm

  • 如何调试锁相环频率合成器

    如何调试锁相环频率合成器

    标签: 调试 锁相环 频率合成器

    上传时间: 2013-08-05

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