失真
失真技术是电子工程领域中关键的一环，涉及信号处理、音频放大及通信系统等多个方面。通过深入研究非线性失真与线性失真的特性及其对电路性能的影响，工程师能够设计出更加高效稳定的电子产品。本页面汇集了212份精选资源，涵盖理论分析、仿真模型以及实际案例，助力您全面掌握失真现象的本质，优化设计方案，提升用户体...
资源总数
500
失真 全部资料 500 份
HDMI眼图失败解决案例
HDMI眼图测试失败，从波形来看HDMI的信号顶上模板 眼图失真很严重，由于HDMI是高速敏感信号 对信号质量要求很苛刻,所以眼图不过关严重影响到高清视频信号的信号质量.本案例描述了整个问题的解决过程。避免后续设计遇到同样问题.
2021-12-19
6
半导体芯片失效分析
从典型的表面贴装工厂的实践来看，半导体失效原因主要分为与材料有关的失效、与工艺有关的失效，以及电学失效。通常与材料和工艺有关的失效发生的较为频繁，而且失效率很高，但是占有90%以上的失效并不是真正的失效，有经验的工艺工程师和失效分析工程师可...
2022-06-26
2
FMEA失效模式公析表.xls
资料->【B】电子技术->【B6】品质管理->【0】工艺质量（可靠性、电磁兼容、抗干扰、WDT、品管）->品质管理范本->FMEA失效模式公析表.xls
2023-05-05
17
步进电机失步情况的一个仿真.这是一个比较完整的方针,但是仅仅考虑了在单个脉冲下的失步情况.
步进电机失步情况的一个仿真.这是一个比较完整的方针,但是仅仅考虑了在单个脉冲下的失步情况.
2014-08-15
25
主要在C8051F020的平台上实现对运放UA741的失调电压、失调电流
主要在C8051F020的平台上实现对运放UA741的失调电压、失调电流，开环放大倍数等参数测试，并在液晶1602上显示测试结果。
2013-12-21
179
RFIC技术白皮书系列：在数字预失真和动态电源条件下测试PA
功率放大器(PA) – 作为分立元件或集成前端模块(FEM)的一部分 – 是现代无线电中最完整的RF集成电路(RFIC)之一。为了满足线性度和效率要求， 系统设计工程师通常利用数字预失真(DPD)等线性化技术来改善线性度，同时利用包络跟踪(...
2022-10-21
9
IC智能卡失效机理研究
摘要:IC智能卡使用过程中出现的密码校验失效、数据丢失、应用区不能读写等一系列失效和可靠性问题,严重影响了其在社会生活各领域的广泛应用.分析研究了IC智能卡芯片碎裂、引线键合断裂、静电放电损伤等失效模式和失效机理,并结合IC卡制造工艺和失效...
2013-11-09
118