📚 失效技术资料

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失效分析是电子技术领域中至关重要的环节，专注于识别和解决电路板、半导体器件等在使用过程中出现的故障问题。通过深入研究失效模式与机理，工程师能够有效提升产品可靠性及寿命。本页面汇集了122份精选资料，涵盖从基础理论到高级案例分析，适合各层次技术人员学习参考。无论是从事硬件设计还是质量控制的专业人士，都能在此找到宝贵资源以增强自身技能，优化项目流程。立即探索，开启您的专业成长之旅！

🔥 失效热门资料

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IC智能卡失效机理研究

摘要:IC智能卡使用过程中出现的密码校验失效、数据丢失、应用区不能读写等一系列失效和可靠性问题,严重影响了其在社会生活各领域的广泛应用.分析研究了IC智能卡芯片碎裂、引线键合断裂、静电放电损伤等失效模式和失效机理,并结合IC卡制造工艺和失效IC卡的分析实例,对引起这些失效的根本原因作了深入探讨,就提...

📅 2013-11-09 👤 wangjg

IC智能卡失效机理

高频硅PNP晶体管3CG120高温失效机理研究

　　为了保证在高温条件下，正确使用高频硅PNP晶体管3CG120，文中对3CG120在不同温度段的失效机理进行了研究。通过对硅PNP型晶体管3CG120进行170~340 ℃温度范围内序进应力加速寿命试验，发现在170~240 ℃，240~290 ℃，以及290~340 ℃分别具有不同的失效机理...

📅 2013-10-15 👤 bensonlly

PNP 3CG 120 CG

某光电装备电机驱动电路失效分析

驱动电路的性能很大程度上影响整个系统的工作性能。驱动电路的设计中主要考虑功能和性能等方面的因素。本文首先介绍了某平台的电机驱动电路，然后就实际工作及实验中驱动电路出现的失效信息作以分析，对问题进行总结: 导致样品失效原因是由于电机产生的反电动势使功率模块内部的三极管芯片产生表面击穿，致使电源与地短路...

📅 2015-01-02 👤 1427796291

光电电机驱动失效分析电路