边扫描测试 边扫描测试是在20世纪80年代中期做为解决PCB物理访问问题的JTAG接口发展起来的,这样的问题是新的封装技术导致电路板装配日益拥挤所产生的。边界扫描在芯片级层次上嵌入测试电路,以形成全面的电路板级测试协议。 2024-05-24 9 声纳扫描
超声波扫查中 超声波扫查中,用线性阵元实现实现线性扫查,扫查体为自定义囊,对接收的回波数据进行hilber变换,获得其包络信息,在对包络信息进行对数压缩,用8为2进制数显示 2014-01-02 149 声纳扫描