基于BIST的带时延故障的FPGA测试
随着超大规模集成电路的迅速发展,90纳米技术已经应用,上千万门的集成电路已经产生。一方面,芯片封装越来越小,引脚越来越密,印制电路饭的密度日益增大,芯片的互连测试成为一个亟待解决的问题。另一方面,芯片或功能模块内部有很多节点无法探测,对这些...
2023-10-31
10