基准测试
基准测试是评估电子系统性能的关键技术,广泛应用于处理器、存储器及网络设备等领域。通过标准化的测试流程,帮助工程师准确衡量硬件或软件在特定条件下的表现,为产品优化提供数据支持。掌握基准测试方法,不仅能够提升个人技能,还能增强团队竞争力。本页面汇集了12829个精选资源,涵盖最新测试工具与案例分析,助力...
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ATEML AT91SAM9260测试程序。AT91SAM9260 SD卡测试程序。
ATEML AT91SAM9260测试程序。AT91SAM9260 SD卡测试程序。
2017-08-15
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LTE终端测试规范36.521测试项解析
TD-LTE终端(UE)的功率有4个等级。当前只定义了功率等级3的要求,要求对于所有的TDD频段,在信道带宽内任何发射带宽下的最大输出功率为23dBm,容限为士2dB。发射功率的测量时间至少是一个子帧(1ms)。上述的容限适用于最多支持4个...
2022-08-20
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高速ADC、DAC测试原理及测试方法
随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高,以及对于系统灵敏度等要求的不断提高,对于高速、高精度的ADC、DAC的指标都提出了很高的要求。比如在移动通信、图像采集等应用领域中,一方面要求ADC有比较高的采样率以采集高带宽的输入信号,另一方...
2022-06-19
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AMR-NB的解码程序,纯C, VC建立工程即可使用.标准测试序列通过测试,与编码配合使用.
AMR-NB的解码程序,纯C, VC建立工程即可使用.标准测试序列通过测试,与编码配合使用.
2015-05-04
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GB-T-2423-电工电子产品基本试验规程标准-6.7M.zip
专辑类-国标类相关专辑-313册-701M GB-T-2423-电工电子产品基本试验规程标准-6.7M.zip
2013-04-24
172
GB-T-2423-电工电子产品基本试验规程标准-6.7M.zip
专辑类-国标类相关专辑-313册-701M GB-T-2423-电工电子产品基本试验规程标准-6.7M.zip
2023-08-25
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