块效应

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电子元器件失效性分析及应用,是硬件开发不可多得的参考书,书中分析多种常用元器件的失效原因,是一本非常实用的专业指导书!

2023-03-30 9 块效应

本文用电流注入模拟的方法研究Intel80C196KC单片机的电磁脉冲(EMP)效应,介绍了试验系统,给出了单片机输入端口、输出端口、电源端口等8种典型端口的EMP干扰效应和3种类型端口的损伤效应的试验数据和初步结论.

2025-01-05 4 块效应

对80C196KC单片机系统的电离总剂量辐射效应进行了动态、静态对比试验.结果表明,该单片机系统不加电状态下总剂量失效水平约为5.8×102Gy(Si),而加电动态工作时约为1.25×102Gy(Si).可见,加电动态工作时的抗总剂量能力大...

2024-07-08 2 块效应