SiP封装中的芯片堆叠工艺与可靠性研究
目前cPU+ Memory等系统集成的多芯片系统级封装已经成为3DSiP(3 Dimension System in Package,三维系统级封装)的主流,非常具有代表性和市场前景,SiP作为将不同...
目前cPU+ Memory等系统集成的多芯片系统级封装已经成为3DSiP(3 Dimension System in Package,三维系统级封装)的主流,非常具有代表性和市场前景,SiP作为将不同...
变压器试验技术...
漆包线去漆皮的试验及应用...
模拟系统的故障诊断与可靠性设计...
数字系统的诊断和可靠性设计...
LED试验...
项目2LED照明产品可靠性加速测试与分析...
LED路灯测试标准及试验方法 Word...
LED照明测试技术分析—驱动电源可靠性和能效成关键...
电气设备试验技术...