AD636是美国AD公司生产的单片真有效值,直流转换器,可用于对交流电压的有效值进行测量.文中叙述了该芯片的内部结构、工作原理,给出了一种4量程真有效值数字电压/电平表的应用电路设计方案.
上传时间： 2013-06-08
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文章利用LabVIEW 虚拟仪器开发平台，实现了采用非接触方式的相位差法测量发动机轴功率系统设计，对发动机输出功率信号进行自动采集、数据处理以及结果显示，实现了功率信号的实时采集。
上传时间： 2013-04-24
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随着电子技术的快速发展，嵌入式系统已经成为热点。嵌入式系统大量应用在自动控制、工业设备和家用电器当中。当前应用的产品常以嵌入式处理器的形式出现，常用的如PDA、交换机、路由器等。嵌入式的广泛应用大大提高了人们的生活水平。位置敏感探测器（Position Sensible Detector）是一种基于半导体PN结横向光电效应的光电器件。它具有分辨率高、响应速度快、信号处理电路相对简单等优点。我们经常将PSD应用在与位置、距离、位移、角度的微小测量有关的场合。本文选用了一维PSD作为系统的探测器，结合嵌入式技术，将PSD应用于微小位移测量，实现了对微小位移的检测。 本研究以PSD、ARM、PC机为核心完成了对位移测量系统的设计。以PSD为核心实现了对信号的转换，利用PSD结合光学三角测量法将位移信号转换成电压信号，然后对电压信号进行放大、滤波等处理之后交由A/D器件进行模数转换。以ARM为核心，主要实现了对数据的处理，存储和通信等功能。将取得的数字量信号通过特定的软件程序编程得到位移信号。以PC机为核心，利用VB6.0实现了对实验数据的显示。PC根据得到的值与设定值进行比较，根据这个差值我们可以对系统进行进一步的完善。分析了位移传感器技术、微处理器ARM和嵌入式操作系统的特点、优势和国内外的研究现状；而后介绍了微小位移测量系统的总体功能、系统的总体硬件框架；叙述了位置敏感探测器PSD的原理和结构，介绍了将PSD应用于位移测量的设计过程；在ARM最小系统的硬件平台下，结合PSD实现了整个系统的硬件设计；软件设计上，以uClinux操作系统作为软件平台，利用内核裁剪技术，移植了BOOTLOADER，设计了Linux驱动程序和应用程序；最后在系统进行调试的时候，对系统进行了必要的改进，主要是设计了相应的非线性补偿电路，利用MATLAB对实验数据进行了拟合与分析。通过实验数据表明，基于ARM和PSD的微小位移测量系统具有精度高，响应速度快，并且成本低等优点。
上传时间： 2013-04-24
上传用户：gcs333
本文以正在研制的某新型电台为应用背景，研究在电台上使用触摸屏的硬件设计方法和软件实现途径。 触摸屏是人机交互发展的方向。目前已在多种领域得到了广泛地应用，而使用触摸屏代替按键在无线电台上实现人机交互功能目前尚不多见。在无线电台上使用触摸屏可以尽可能地减少电台的体积，同时采用常见的Windows风格的操作系统，可以使电台不仅易于携带，也更便于操作。 本文的研究是基于ARM的硬件平台和Windows CE的软件平台。硬件平台的内核模块采用ARM920T核的S3C2410嵌入式处理器，外部包含64M的SDRAM和64M的NAND Flash；硬件平台还集成了LCD，触摸屏等人机接口，同时提供了USB主控制器接口、SD卡扩展接口和RS232接口。平台技术先进，结构合理，功能较完备，整体性、可扩充性强。 在此硬件平台的基础上，本文深入分析了基于Windows CE软件平台的构建，对应用开发所涉及工具软件作了介绍，并依据应用开发的需要定制了Windows CE内核。本文对LCD、触摸屏和USB的驱动程序作了深入研究，并在此基础上初步涉及了Windows CE应用程序开发，实现了电台操作界面，实现了基本的数据录入与输出功能。
上传时间： 2013-07-26
上传用户：fandeshun
目前国内的大多数通用直流电参数测量设备，精度等级一般为0.5级或0，2级，精度更高的测量仪表(校表)一般为0.1～0.05级。而数字仪表使用的CPU大多数仍采用8位或16位单片机，由于其处理速度慢，不易实现更多的功能。软件上还是采用汇编语言编程，流程上沿用传统的线性程序，不便于软件的升级和维护。而国外高精度的测量设备往往价格很高。为了更好地满足计算过程中准确性、精确性、快速性以及日后客户对仪表功能上的升级要求，克服目前国内现行的直流电参数测量仪器存在的局限，同时获得更高的性价比，本文在充分分析和吸收当前国内外数字仪表的先进技术和经验后，研制了一种基于32位ARM和嵌入式实时操作系统μC/OS-Ⅱ的智能直流校验表，精度已达到了0.05级，该仪器是目前国内直流电参数测量的最高性能仪器之一，可广泛用于实验室、计量院所、电力系统等部门作为0.1级、0.05级直流电压、电流测量标准或现场检测。 本文首先对直流表的各种测量功能和精度要求进行了分析，提出了仪器的总体框架和满足测量精度要求的措施。本装置硬件上采用ARM结构，以恩智浦公司的ARM微控制器(LPC2134)为控制核心，实现测量、校准、通信和显示功能。软件上则基于嵌入式实时操作系统μC/OS-Ⅱ进行了仪表的总体程序设计。 在介绍了对直流表硬件电路的设计及驱动程序的编写后，再简单阐述了μC/OS-Ⅱ的一些基本概念和在ARM微控制器(LPC2134)上的移植，并详细介绍了基于μC/OS-Ⅱ平台应用程序的任务划分，在设计了全部程序后，探讨了误差的分类和产生原因，并对实验结果进行了分析。
上传时间： 2013-06-25
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介绍了Allegro公司推出的霍尔传感器A3144的性能特点，利用单片机AdyC831的两个通用v0口通过两块A3144实现了精确位移测量及自动判断转向的，并给出了实际应用的源程序。实际运行表明，本系
上传时间： 2013-06-04
上传用户：xiaoyunyun
本文介绍了一种适于网络环境的高效、可扩展、自适应以及鲁棒的视频流压缩与传输技术，并以此为基础最终实现了一个流媒体系统。该系统由两部分组成：流媒体压缩部分和网络传输控制部分。在本文中将详细介绍这
上传时间： 2013-06-03
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为了解决传统的温湿度测量过程中存在的间题，利用集成湿度传感器HIH-3610测得相对湿度，用多功能芯片DS2438测得工作电压和湿度补偿数据，上位机采用IabVIEW编程进行湿度补偿计算和显示，研制了
上传时间： 2013-07-06
上传用户：CSUSheep
目前在各行各业中应用种类繁多的测量仪器随着仪器性能指标要求的逐渐提升以及功能的不断拓展，对仪器控制系统的实时性和集成化程度等性能的要求也越来越高。目前发展的趋势是开放式、集成度向芯片级靠拢的高实时性仪器。针对目前传统的系统设计存在着功能简单、速度慢、实时性差、对数据的再加工处理能力极为有限等问题，本文根据课题需要提出了一种基于ARM+FPGA架构的高速实时数据采集嵌入式系统方案，应用在小功率半导体测量仪器上。方案采用三星S3C2410的ARM处理器进行管理控制，处理数据，界面显示；Altera公司的Cyclone系列的1C12 FPGA器件用来进行高速数据采集，提高了系统的实时性和集成化程度。 本文首先给出了ARM+FPGA架构的总体设计。硬件方面，简要讨论了ARM处理器的特点和优势，FPGA在高速采集和并行性上的优势，给出了硬件的总体结构和主要部件及相关接口。软件方面，研究了基于嵌入式Linux的嵌入式系统的构建和BootLoader的启动以及内核和根文件系统的结构，构建了嵌入式Linux系统包括建立交叉开发环境，修改移植BootLoader和裁减移植Linux内核，并且根据课题实际需要精简建立了根文件系统。 为了满足测量仪器的实时性，设计了ARM与FPGA的高速数据采集接口。进行了FPGA内部与ARM接口相关部分的硬件电路设计；通过分析ARM与FPGA内部时序的差异，针对ARM与FPGA内部FIFO时序不匹配的问题，解决了测量仪器中高速数据采集与处理速度不匹配的问题。接着，通过研究Linux设备驱动基本原理和驱动程序的开发过程，设计了Linux下的FPGA数据采集接口驱动程序，并且实现了中断传输。使得FPGA芯片通过高效可靠的驱动程序可以很好的与ARM进行通讯。 最后为了方便用户操作，进行了人机交互系统的设计。为了降低成本和提高实用性利用FPGA芯片剩余的资源实现了对PS/2键盘鼠标接口的控制，应用到系统中，大大提高了人机交互能力；通过比较分析目前比较流行的几种嵌入式GUI图形设计工具的优缺点，结合课题的实际情况选择了MiniGUI作为课题图形界面的开发。根据具体要求设计了适合测量仪器方面上使用的人机交互界面，并且移植到了ARM平台上，给测量仪器的使用提供了更好的交互操作。 本课题完成了嵌入式Linux开发环境的建立，针对课题实际硬件电路设计修改移植了bootloader，裁减移植了内核以及根文件系统的建立；设计了FPGA内部硬件电路，解决了接口中ARM与FPGA时序不匹配的问题，实现了ARM与FPGA之间的高速数据采集；设计了高速采集接口在嵌入式Linux下的驱动程序以及中断传输和应用程序；合理设计了适合测量仪器使用的人机交互界面，并巧妙设计了PS/2键盘鼠标接口，进一步提高了交互操作。
上传时间： 2013-06-21
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表面粗糙度是机械加工中描述工件表面微观形状重要的参数。在机械零件切削的过程中，刀具或砂轮遗留的刀痕，切屑分离时的塑性变形和机床振动等因素，会使零件的表面形成微小的蜂谷。这些微小峰谷的高低程度和间距状况就叫做表面粗糙度，也称为微观不平度。表面粗糙度的测量是几何测量中的一个重要部分，它对于现代制造业的发展起了重要的推动作用。世界各国竞相进行粗糙度测量仪的研制，随着科学技术的发展，各种各样的粗糙度测量系统也竞相问世。对于粗糙度的测量，随着技术的更新，国家标准也一直在变更。最新执行的国家标准(GB/T6062-2002)，规定了粗糙度测量的参数，以及制定了触针式测量粗糙度的仪器标准[1]。 随着新国家标准的执行，许多陈旧的粗糙度测量仪已经无法符合新标准的要求。而且生产工艺的提高使得原有方案的采集精度和采集速度，满足不了现代测量技术的需要。目前，各高校公差实验室及大多数企业的计量部门所使用的计量仪器(如光切显微镜、表面粗糙度检查仪等)只能测量单项参数，而能进行多参数测量的光电仪器价格较贵，一般实验室和计量室难以购置。因此如何利用现有的技术，结含现代测控技术的发展，职制出性能可靠的粗糙度测量仪，能有效地降低实验室测量仪器的成本，具有很好的实用价值和研究意义。 基于上述现状，本文在参考旧的触针式表面粗糙度测量仪技术方案的基础上，提出了一种基于ARM嵌入式系统的粗糙度测量仪的设计。这种测量仪采用了先进的传感器技术，保证了测量的范围和精度；采用了集成的信号调理电路，降低了信号在调制、检波、和放大的过程中的失真；采用了ARM处理器，快速的采集和控制测量仪系统；采用了强大的PC机人机交互功能，快速的计算粗糙度的相关参数和直观的显示粗糙度的特性曲线。 论文主要做了如下工作：首先，论文分析了触针式粗糙度测量仪的发展以及现状；然后，详细叙述了系统的硬件构成和设计，包括传感器的原理和结构分析、信号调理电路的设计、A/D转换电路的设计、微处理器系统电路以及与上位机接口电路的设计。同时，还对系统的数据采集进行了研究，开发了相应的固件程序及接口程序，完成数据采集软件的编写，并且对表面粗糙度参数的算法进行程序的实现。编写了控制应用程序，完成控制界面的设计。最终设计出一套多功能、多参数、高性能、高可靠、操作方便的表面粗糙度测量系统。
上传时间： 2013-04-24
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