可测试性
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查看全部 500 份 →基于DES理论的数模混合电路可测试性研究
近年来出现的离散事件系统(DES)理论为数模混合电路的测试提供了一种新的解决思路,本文对DES 理论在求取数模混合电路的可测试性和最小测试集中的应用进行了论述。该种方法可以在计算机上用C++语
2024-02-06
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数字信号处理器芯片核NDSP25的可测试性设计
· 摘要: 介绍了可测试性设计的一般方法,着重讨论了NDSP25数字信号处理器芯片核的可测试性设计策略,以及可测试性设计的实现,并对可测试性设计的结果进行了统计和分析.
2024-08-13
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