随着电子技术的迅猛发展,电路系统的复杂程度急剧增加,越来越多的电路同时包含了数字信号和模拟信号,使得电路系统的测试难度越来越大,电路测试也因此面临着更大的挑战。目前的电路故障方法主要还是针对数字电路和模拟电路的,但是数模...
基于DES理论的数模混合电路可测试性研究
资料详细技术说明
近年来出现的离散事件系统(DES)理论为数模混合电路的测试提供了一种新的解
决思路,本文对DES 理论在求取数模混合电路的可测试性和最小测试集中的应用进行了论述。该种方法可以在计算机上用C++语
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